Polovodičové detektory v jaderné a subjaderné fyzice. - NJSF101

• Anglický název: Semiconductor Detectors in Nuclear and Subnuclear Physics
• Zajišťuje: Ústav částicové a jaderné fyziky (32-UCJF)
• Fakulta: Matematicko-fyzikální fakulta
• Platnost: od 2022
• Semestr: zimní
• E-Kredity: 3
• Rozsah, examinace: zimní s.:2/0, Zk [HT]
• Počet míst: neomezen
• Minimální obsazenost: neomezen
• 4EU+: ne
• Virtuální mobilita / počet míst pro virtuální mobilitu: ne
• Stav předmětu: vyučován
• Jazyk výuky: čeština, angličtina
• Způsob výuky: prezenční
• Další informace: http://www-ucjf.troja.mff.cuni.cz/dolezal/teach/semicon/
• Garant: prof. RNDr. Zdeněk Doležal, Dr.
• Vyučující: prof. RNDr. Zdeněk Doležal, Dr.

Anotace

čeština

Polovodiče, polovodičové struktury, interakce záření v polovodičích, spektroskopické detektory, polohově citlivé detektory (stripové, pixelové, atd.) Elektronika pro polovodičové detektory, radiační odolnost Aplikace v medicíně i jiných oblastech Zpracování dat (vyhodnocení spekter, hledání píků, určení drah částic)

Poslední úprava: T_UCJF (19.03.2015)

angličtina

Semiconductors, semiconducting structures, interaction of radiation in semiconductors, spectroscopic detectors, position sensitive detectors (strip, pixel, ...). Electronics for semiconductor detectors, radiation hardness. Applications in medicine and other fields. Data manipulation (analysis of spectra, search for peaks, tracking of particles).

Poslední úprava: T_UCJF (27.05.2002)

Podmínky zakončení předmětu

Podmínkou zakončení předmětu je složení zkoušky.

Poslední úprava: Doležal Zdeněk, prof. RNDr., Dr. (07.06.2019)

Literatura

čeština

G. Lutz: Semiconductor Radiation Detectors, Springer Berlin, 1999

F. Hartmann: Evolution of Silicon Sensor Technology in Particle Physics, Springer 2008

S. M. Sze, Physics of Semiconductor Devices, Wiley, NY 1981

C. Kittel, .Úvod do fyziky pevných látek, ACADEMIA Praha 1985

Studijní texty: http://www-ucjf.troja.mff.cuni.cz/~dolezal/teach/semicon/

Poslední úprava: T_UCJF (19.03.2015)

Požadavky ke zkoušce

Zkouška má ústní formu. Uchazeč dostane po jedné otázce z každého z okruhů:

• Interakce záření s hmotou, vlastnosti polovodičů

• Typy a třídy detektorů

• Příklad

Požadavky odpovídají sylabu v rozsahu prezentovaném na přednášce.

Poslední úprava: Doležal Zdeněk, prof. RNDr., Dr. (07.10.2017)

Sylabus

čeština

1. Polovodiče: základní poznatky 2. Polovodičové struktury: p-n přechod 3. Interakce záření v polovodičích, detekční vlastnosti 4. Spektroskopické detektory (nabité částice, gama) 5. Polohově citlivé detektory (stripové, pixelové, driftové, CCD) 6. Elektronika pro polovodičové detektory (funkce, šum, integrované obvody) 7. Radiační odolnost 8. Aplikace: zobrazovací metody v medicíně, rekonstrukce obrazu 9. Zpracování dat (vyhodnocení spekter, hledání píků, určení drah částic) - praktické ukázky

Poslední úprava: T_UCJF (27.05.2002)

angličtina

• Basic principles
• Semiconductor structures: p-n junction
• Interaction of radiation in semiconductors, detection characteristics
• Spectroscopical detectors (charged particles, gamma)
• Position sensitive detectors (strips, pixels, drift, CCD)
• Electronics for semiconductor detectors
• Radiation hardness
• Applications: medical imaging, image reconstruction
• Data analysis (spectra evaluation, peak search, track reconstruction), practical examples

Poslední úprava: T_UCJF (23.05.2003)