Poslední úprava: doc. RNDr. Helena Valentová, Ph.D. (03.10.2018)
Předmět bude zaměřen na praktickou demonstraci základních spektroskopických metod využívaných ve výzkumu
pevných látek. Studenti se seznámí s metodami spektroskopické elipsometrie, spektrofotometrie, magnetooptické
spektroskopie, infračervené fourierovské spektroskopie a THz spektroskopie. Předmět bude navazovat na
přednášku Fyzika polovodičů pro optoelektroniku II a důraz bude kladen i na praktickou ukázku analýzy
experimentálních dat.
Předmět byl vytvořen za podpory projektů Univerzity Karlovy z OP VVV.
Cíl předmětu
Poslední úprava: doc. RNDr. Helena Valentová, Ph.D. (03.10.2018)
Předmět seznámí studenty s moderními spektroskopickými metodami používanými v současném materiálovém výzkumu. Důraz bude kladen na provázání teorie pevných látek a experimentu.
Literatura
Poslední úprava: doc. RNDr. Helena Valentová, Ph.D. (03.10.2018)
[1] H. Fujiwara, Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications, Wiley (2007)