Experimentální metody fyziky kondenzovaných látek III - NFPL124

• Anglický název: Experimental methods of condensed matter physics III
• Zajišťuje: Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL)
• Fakulta: Matematicko-fyzikální fakulta
• Platnost: od 2019
• Semestr: zimní
• E-Kredity: 6
• Rozsah, examinace: zimní s.:2/2, Z+Zk [HT]
• Počet míst: neomezen
• Minimální obsazenost: neomezen
• 4EU+: ne
• Virtuální mobilita / počet míst pro virtuální mobilitu: ne
• Stav předmětu: vyučován
• Jazyk výuky: čeština, angličtina
• Způsob výuky: prezenční
• Způsob výuky: prezenční
• Další informace: http://www.xray.cz/FPL124
• Garant: prof. RNDr. Radomír Kužel, CSc.; prof. RNDr. Helena Štěpánková, CSc.; prof. Ing. Andrey Shukurov, Ph.D.
• Kategorizace předmětu: Fyzika > Fyzika pevných látek
• Je korekvizitou pro: NFPL125

Anotace

čeština

Poslední úprava: Mgr. Kateřina Mikšová (14.05.2019)

Technologie přípravy krystalů a tenkých vrstev. Struktura a vlastnosti tenkých vrstev (tloušťka, drsnost, povrchová energie, napětí, textury atd.). Studium nanočástic. Rozptyl světla (DLS), Ramanova a IČ spektroskopie. Další vybrané spektroskopické a jaderné metody. Exkurze. V předmětu jsou uvedeny principy a charakteristiky jednotlivých metod, jejich možnosti a případná omezení. V praktické části budou studenti seznámeni s typickými demonstračními úlohami k jednotlivým skupinám metod. Na přednáškách i cvičeních se podílí několik vyučujících.

angličtina

Poslední úprava: T_KFES (14.05.2014)

Technology of preparation of crystals and thin films. Structure and properties of thin films (thickness, roughness, surface energy, stresses, textures etc.). Study of nanoparticles. Dznamic light scattering, Raman and infrared spectroscopy. Other selected spectroskopic and nuclear methods. Excursions. Principles and characteristics of individual methods, their possibilities and restrictions. In practical part typical tasks for the methods.

Podmínky zakončení předmětu

čeština

Poslední úprava: prof. RNDr. Helena Štěpánková, CSc. (14.06.2019)

Předmět je zakončen ústní zkouškou. Podmínkou pro připuštění ke zkoušce je zápočet. K zápočtu je nutná účast na praktické části výuky a vypracování požadovaných referátů ze zadaných úloh. Referát se odevzdává jeden za skupinu (ve skupině 1-3 studenti).

angličtina

Poslední úprava: prof. RNDr. Radomír Kužel, CSc. (12.05.2022)

Oral exam. For the examination the credit from practical part is necessary. For the credit, participation at practical parts of the subject is required. From selected tasks, a written report is required (for a group of 1-3 students).

Literatura

Poslední úprava: prof. RNDr. Helena Štěpánková, CSc. (14.06.2019)

Anders Lund, Masaru Shiotani, Shigetaka Shimada, Principles and applications of ESR spectroscopy, Springer 2011

V. Kuperman, Magnetic Resonance Imagining, Academic Press, Illinois (2000)

Bernhard Blumich, Essential NMR, Springer 2005

J.N. Mundy, S.J. Rothman, M.J. Fluss, L.C. Smedskjaer, Methods of Experimental Physics, Vol. 21 Solid State: Nuclear Methods, Academic Press, Orlando (1983)

Hiroyuki Fujiwara, Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications, John Wiley & Sons, 2007

J. M. Hollas: Modern spectroscopy, J. Wiley, 2004

E.de Hoffmann, V. Stroobant: Mass Spectrometry. Principles and Applications, Wiley-Interscience, 2007

Dynamic Light Scattering: With Applications to Chemistry, Biology, and Physics (Dover Books on Physics)by by Bruce J. Berne

Marion Birkholz: Thin Film Analysis by X-Ray Scattering. Wiley 2006.

Požadavky ke zkoušce

Poslední úprava: prof. RNDr. Radomír Kužel, CSc. (06.10.2017)

Zkouška je ústní se zadáním tří otázek z probírané tématiky a možností přípravy na místě. Dále pak jsou možné doplňující krátké otázky. Zkouší zpravidla více vyučujících.

Ke zkoušce je vyžadován zápočet.

Sylabus

čeština

Poslední úprava: prof. RNDr. Radomír Kužel, CSc. (22.09.2014)

Růst krystalů

Příprava tenkých vrstev. Měření tloušťky tenkých vrstev, drsnosti a povrchové energie.

Elipsometrie.

Struktura povrchů a tenkých vrstev. Napětí a přednostní orientace. Studium napětí a textur v tenkých vrstvách, měření reflektivity

Diagnostika plazmové polymerace (hmotnostní spektroskopie, optická emisní spektroskopie)

Ramanova a IČ spektroskopie

Elektronová paramagnetická (spinová) rezonance EPR (ESR), spektroskopie v kondenzovaných látkách.

Zobrazování pomocí jaderných metod MR Imaging

Studium nanočástic pomocí DLS (dynamický rozptyl světla)

angličtina

Poslední úprava: T_KFES (21.05.2004)

I. Atomic structure
Surface crystallography, symmetry, reciprocal lattice, relaxation, reconstruction.

LEED, Ewald construction, diffraction pattern, kinematic and dynamic theory of intensity determination

II. Electronic structure
one-particle approach. Tamm and Shockley surface states, complex bend structure, surface electronic states

many-particles approach

photoelectron spectroscopy

photoemission