|
|
|
||
Poslední úprava: G_F (29.05.2006)
|
|
||
Poslední úprava: G_F (29.05.2006)
1. D. P. Woodruff and T. A. Delchar, Modern techniques of surface science, Cambridge University press, Cambridge 1986, ISBN 0-521-30602-7. 2. H. Bubert and H. Jenett (Eds.), Surface and Thin Film Analysis, Wiley-VCH Verlag GmbH Weinheim, 2002. 3. B. Heinrich and J. A. C. Bland (Eds.), Ultrathin Magnetic Structures I and II, Springer-Verlag, Heidelberg, 1994. 4. G. Ertl and J. Kuppers, Low Energy Electrons and Surface Chemistry, VCH Verlagsgesellschaft mbH, Weinheim, 1985, ISBN 3-527-26056-0. 5. S. Hufner, Photoelectron Spectroscopy, Springer-Verlag, Berlin, 1995 (and 2004), ISBN 3-540-19108-9. 6. M. Mansuripur, The physical principles of magneto-optical recording, Cambridge Univ. Press, Cambridge, 1998. 7. K. H. Bennemann (Ed.), Nonlinear Optics in Metals, Clarendon Press, Oxford, 1998. 8. L. E. C. van de Leemput and H. van Kempen, Scanning tunnelling microscopy, Rep. Prog. Phys. 55, 1165 (1992). 9. F. Besenbacher, Scanning tunnelling microscopy studies of metal surfaces, Rep. Prog. Phys. 59, 1737 (1996). 10. H. Ebert and G. Schutz (Eds.), Spin-Orbit Influenced spectroscopies of Magnetic Solids, Springer-Verlag, Berlin 1996, ISBN 3-540-60843-5. 11. A. Hubert and R. Schafer, Magnetic domains: the analysis of magnetic microstructures, Springer, Berlin, 1998. |
|
||
Poslední úprava: G_F (29.05.2006)
Význam ultratenkých vrstev a povrchů pro aplikace (optoelektronika, magnetický záznam, magneto-optický záznam); příprava čistých povrchů (ultravysoké vakuum, kontaminace povrchů a čištění, adsorpce povrchově analytické metody); metody přípravy ultratenkých vrstev. Krystalografie povrchů, elektronová difrakce a metody skenovací sondy Symetrie povrchu, elektronová difrakce - kvalitativní úvahy; princip a aplikace difrakce nízkoenergetických elektronů (LEED) a difrakce vysokoenergetických elektronů (RHEED); skenovací tunelová mikroskopie (STM) a mikroskopie atomové síly (AFM) při studiu morfologie povrchu. Elektronové spektroskopie Elektronové zdroje; přístroje pro detekci a energetickou analýzu povrchů; Augerova elektronová spektroskopie (AES) - princip, spektrální informace a kvantifikace; spektroskopie elektronových energetických ztrát (EELS). Spektroskopie fotoelektronů Klasická a inverzní fotoemise; vícefotonová fotoemise; aplikace při studiu povrchových stavů a stavů adsorbátů; časově rozlišená dvoufotonová fotoemise (femtosekundová dynamika elektronů); UPS a XPS. Magneto-optický Kerrův jev Základní principy; experimentální konfigurace; teoretické přístupy; kvantitativní popis; magneto-optická magnetometrie a spektroskopie; praktická aplikace na různé systémy. Generace druhé optické harmonické (SHG) Obecné předpoklady; SHG na površích a rozhraních; typické laserové excitační zdroje a detektory generovaných fotonů; experimenty s čerpacím a detekčním pulsem (pump-probe) - relaxační procesy; charakterizace laserových pulsů; studium nemagnetických a magnetických povrchů a vrstev. Proces přemagnetování Magnetické domény; optická kerrovská mikroskopie, mikroskopie magnetické síly (MFM); spinově polarizovaná skenovací tunelová mikroskopie (SPSTM); typické případy přepínání magnetizace; přepínání magnetizace v nanostrukturách. |