Poslední úprava: doc. RNDr. Josef Pešička, CSc. (23.04.2014)
Příprava vzorků pro elektronovou mikroskopii.
Hlavní součásti skenovacího elektronového mikroskopu, principy jeho fungování.
Základy ovládání elektronového mikroskopu.
Zobrazování pomocí sekundárních elektronů.
Zobrazování pomocí zpětně odražených elektronů.
Chemická analýza pomocí EDX a WDX.
Analýza krystalografické orientace a textury metodou EBSD.
Další pokročilé techniky.
Poslední úprava: doc. RNDr. Josef Pešička, CSc. (29.04.2016)
Sample preparation for electron microscopy .
Basic principles and controlling of scanning electron microscope.
Imaging using secondary and back-scattered electrons.
Chemical analysis by means of EDX and WDX.
Analysis of crystallographic orientation and texture by means of EBSD.
Podmínky zakončení předmětu
Poslední úprava: RNDr. Jitka Stráská, Ph.D. (14.06.2019)
Zápočet je udělován na základě aktivní účasti na cvičení (výuce na skenovacím elektronovém mikroskopu na Katedře fyziky materiálů).
Literatura
Poslední úprava: doc. RNDr. Josef Pešička, CSc. (23.04.2014)
Joseph Goldstein: Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, Springer, 2003.
Sylabus -
Poslední úprava: doc. RNDr. Josef Pešička, CSc. (29.04.2016)
Příprava vzorků pro elektronovou mikroskopii.
Hlavní součásti skenovacího elektronového mikroskopu, principy jeho fungování.
Základy ovládání elektronového mikroskopu.
Zobrazování pomocí sekundárních elektronů.
Zobrazování pomocí zpětně odražených elektronů.
Chemická analýza pomocí EDX a WDX.
Analýza krystalografické orientace a textury metodou EBSD.
Další pokročilé techniky.
Poslední úprava: doc. RNDr. Josef Pešička, CSc. (29.04.2016)
Sample preparation for electron microscopy .
Basic principles and controlling of scanning electron microscope.
Imaging using secondary and back-scattered electrons.
Chemical analysis by means of EDX and WDX.
Analysis of crystallographic orientation and texture by means of EBSD.