Přehled fyzikálních metod, které mají rozlišení v řádu nanometrů. Představení zajímavých nanomateriálů, jejich
vlastností a možností použití. Další témata podle dohody s posluchači. Vhodné pro studenty magisterského a
doktorského studia.
Poslední úprava: T_KCHFO (22.01.2015)
This lectures will give general overview of techniques which have a resolution in the range of nm. Overview of
interesting nanomaterials, their properties and possible use. Suitable for students of master studies.
Literatura -
Poslední úprava: T_KCHFO (22.01.2015)
Václav Prosser a kol., Experimentální metody biofyziky, Praha Academia, 1989, ISBN: 80-200-0059-3
Catherine G. Galbraith1, James A. Galbraith, Super-resolution microscopy at a glance, doi: 10.1242/jcs.080085 May 15, 2011 J Cell Sci 124, 1607-1611.
Poslední úprava: T_KCHFO (22.01.2015)
Václav Prosser a kol., Experimentální metody biofyziky, Praha Academia, 1989, ISBN: 80-200-0059-3
Catherine G. Galbraith1, James A. Galbraith, Super-resolution microscopy at a glance, doi: 10.1242/jcs.080085 May 15, 2011 J Cell Sci 124, 1607-1611.
Sylabus -
Poslední úprava: Mgr. Anna Fučíková, Ph.D. (01.10.2023)
Princip mikroskopie atomárních sil (AFM), možnosti použití včetně studia biologických vzorků, manipulace s nanoobjekty. Úvod do transmisní elektronové mikroskopie (TEM), řádkovací tunelové mikroskopie (STM), skenovací elektronové mikroskopie (SEM). Optická mikro-spektroskopie, super rezolučních mikroskopie (STED, PALM, STORM). Jejích použití pro studium nanočástic. Přehled postupu výroby nanomateriálů.
Započet je podmíněn účastí na přednáškách (alespoň 60%), zkouška je ústní.
V případě nadměrné absence, je možno zápočet získat bezchybnou prezentací jednoho z probíhaných témat.
POZOR!!! Výuka tohoto předmetu začíná vždy druhý týden v semestru, během prvního týdne napište vyučujícímu ohledně dohody na optimálním čase prednášky.
Poslední úprava: Mgr. Anna Fučíková, Ph.D. (01.10.2023)
Principle of atomic force microscopy (AFM), applications in biology, manipulation with nano-objects. Introduction to Scanning Tunneling Microscopy (STM), Scanning electron microscopy (SEM), Transmission electron microscopy (TEM), super resolution microcopies: STED, PALM, STORM. Overview of nanomaterial manufacture techniques and their limits.
The attendance at lectures (at least 60%)is conditional for credits, exam is oral.
In the case of excessive absence, it is possible to obtain credits for the correct 15 min presentation of one of the topics of the lecture.
Attention!!! First lecture is on the second week of the semestr.