Poslední úprava: doc. RNDr. Josef Pešička, CSc. (22.04.2014)
Struktura nízkodimenzionálních objektů – zobrazovací metody (TEM, LEEM, STM, AFM a jiné rastrovací metody)
Struktura nízkodimenzionálních objektů – elektronová difrakce – RHEED, LEED, rtg rozptyl – maloúhlý rozptyl, rtg
difrakce.
Studium elektronových stavů – optická spektroskopie, elipsometrie, XPS, UPS, NMR, ARUPS
Studium fononových stavů – nepružný neutronový rozptyl, Ramanův rozptyl
Studium struktury a dynamiky v polymerech pomocí maloúhlového rozptylu neutronů a x-paprsků
Chemická analýza – metody SIMS, ERDA, NRA, RBS, Augerova spektroskopie, EDAX, rtg. fluorescence.
Poslední úprava: JANECEK (18.05.2007)
The lecture gives an overview of experimental methods suitable for the investigation of various types of nanostructures (semiconductor and metallic nanostructures, surfaces and thin layers, metallic and dielectric nanoparticles) with the emphasis to the study of morphology, electron and phonon properties. In addition to the description of the methods, the lecture will formulate physical principles of the methods and a survey of recent experimental results. The content of the lecture will be modified accord-ing to subjects of the PhD theses of the participants.
Podmínky zakončení předmětu
Poslední úprava: prof. RNDr. Václav Holý, CSc. (06.10.2017)
Zkouška se sestává z písemné a ústní části. Písemná část spočívá ve vyřešení velmi snadného problému, který nevyžaduje dlouhé počítání (max. 30 min). Ústní část navazuje na řešení zmíněného problému a trvá max. 45 min. Známka zkoušky se stanoví ze souhrnného hodnocení písemné a ústní části. Požadavky zkoušky odpovídají skutečně odpřednášené části sylabu.
Literatura -
Poslední úprava: doc. RNDr. Josef Pešička, CSc. (22.04.2014)
1. B.J. Gabrys (Ed.), Applications of Neutron Scattering to Soft Condensed Matter, Gordon and Breach Science Publisher, 2000
2. Pietsch U., Holý V. and Baumbach T., High-Resolution X-Ray Scattering From Thin Films to Lateral Nanostructures, Springer-Verlag Berlin, Heidelberg, New York 2004.
3. David B.Williams and C.Barry Carter, Transmission Electron Microscopy, A Textbook for Material Science, Plenum Press, New York 1996.
Poslední úprava: JANECEK (18.05.2007)
R.-J.Ror: Methods of x-ray and Neutron Scattering in Polymer Science
B.J. Gabrys (Ed.) Applications of Neutron Scattering to Soft Condensed Matter, Gordon and Breach Science Publisher, 2000
U. Pietsch et al., High-resolution x-ray scattering from thin films and nanostructures, Springer 2004
David B.Williams and C.Barry Carter, Transmission Electron Microscopy, A Text-book for Material Science 1996 Plenum Press, New York
J. Stangl, V. Holý and G. Bauer, Structural properties of self-organized semiconductor nanostructures, Rev. Mod. Phys. 76, 725-783 (2004).
N. N. Ledencov, D. Bimberg, M. Grundmann, Quantum Dot Heterostructures, 1999 J. Wiley.
Požadavky ke zkoušce
Poslední úprava: prof. RNDr. Václav Holý, CSc. (06.10.2017)
Požadavky zkoušky odpovídají skutečně odpřednášené části sylabu.
Sylabus -
Poslední úprava: JANECEK (18.05.2007)
1. Zobrazovací metody pro studium nízkodimenzionálních struktur
Transmisní elektronová mikroskopie, mikroskopie pomalých elektronů, rastrovací techniky: rastrovací elektronová mikroskopie, rastrovací tunelová mikroskopie, mikroskopie atomové síly a její modifikace
2. Difrakční metody pro studium nízkodimensionálních struktur
Nepružný neutronový rozptyl, Ramanův rozptyl, elipsometrie a IR absorpce
5. Chemická analýza nanostruktur
Metody založené na rtg charakteristickém záření (rtg. fluorescence, elektronová energiově dispersní analýza, anomální rtg rozptyl)
Metody elektronové spektroskopie (Augerovy elektrony, metoda EELS)
Metody iontové spektroskopie (Rutherford backscattering, metoda SIMS)
Poslední úprava: JANECEK (18.05.2007)
1. Methods of imaging of low-dimensional structures
Transmission electron microscopy, low-energy electron microscopy, scanning techniques: scanning electron microscopy, scanning tunneling microscopy, atomic force microscopy and its modifications
2. Diffraction methods for the study of low-dimensional structures
Diffracrion of high-energy electrons, diffraction of low-energy electrons, x-ray diffraction, x-ray reflection, small-angle x-ray scattering