Základy mikroskopie atomárních sil - NOOE082
Anglický název: Fundamentals of Atomic Force Microscopy
Zajišťuje: Fyzikální ústav UK (32-FUUK)
Fakulta: Matematicko-fyzikální fakulta
Platnost: od 2024
Semestr: letní
E-Kredity: 3
Rozsah, examinace: letní s.:2/0, Zk [HT]
Počet míst: neomezen
Minimální obsazenost: neomezen
4EU+: ne
Virtuální mobilita / počet míst pro virtuální mobilitu: ne
Stav předmětu: vyučován
Jazyk výuky: čeština
Způsob výuky: prezenční
Garant: RNDr. Martin Rejhon, Ph.D.
Vyučující: RNDr. Martin Rejhon, Ph.D.
Výsledky anket   Termíny zkoušek   Rozvrh LS   Nástěnka   
Anotace -
Přednáška o základech mikroskopie atomárních sil je určena studentům fyziky v magisterském a doktorském studijním programu. Kurz poskytuje podrobný popis návrhů mikroskopů atomárních sil, experimentálních režimů a problémů, se kterými se lze při měření AFM setkat.
Poslední úprava: Kopecký Vladimír, RNDr., Ph.D. (21.03.2024)
Cíl předmětu -

Hlavním cílem je představit AFM jako atraktivní experimentální metodu a poskytnout komplexní popis základů, experimentálních režimů a jejich aplikací.

Poslední úprava: Kopecký Vladimír, RNDr., Ph.D. (21.03.2024)
Literatura -

[1] VOIGTLÄNDER, Bert. Atomic Force Microscopy. 2nd ed. 2019. Cham: Springer International Publishing, 2019. ISBN 3-030-13654-X

[2] MEYER, Ernst; HUG, Hans Josef a BENNEWITZ, Roland. Scanning probe microscopy: the lab on a tip. New York: Springer, c2004. ISBN 3-540-43180-2.

[3] GÜNTHERODT, Hans-Joachim a WIESENDANGER, Roland. Scanning tunneling microscopy. [Vol.] II, Futher applications and related scanning techniques. 2nd ed. Berlin: Springer, 1995. ISBN 3-540-58589-3.

[4] LANZA, Mario. Conductive atomic force microscopy: applications in nanomaterials. Weinheim, Germany: Wiley-VCH, 2017. ISBN 3-527-69978-3.

Poslední úprava: Kopecký Vladimír, RNDr., Ph.D. (21.03.2024)
Sylabus -
  1. Úvod
    1. Historie, Harmonický oscilátor
  2. AFM konstrukce
    1. Technické aspekty
    2. AFM ramínka/hroty, Kalibrace
    3. Šum
  3. Statické AFM
    1. Principy
    2. Síly mezi hrotem a vzorkem
    3. Mechanika kontatu
    4. Třecí síla, PT model, FK model
    5. Vodivostní AFM
  4. Intermittent/Tapping AFM
    1. Amplitudová Modulace
    2. Frekvenční Modulace
    3. Výstupní práce, kontaktní potenciál a Kelvinovská sonda
  5. Další AFM techniky
    1. Mikroskopie magnetických sil (MFM)
    2. Skenovací termální mikroskopie (STM)
    3. Skenovací kapacitní mikroskopie (SCM) / Skenovací odporová mikroskopie (SSRM)
    4. Mikroskopie piezoelektrických sil (PFM)
    5. Mapování fotogenerovaného proudu (PCM)
    6. Modulovaná nanoindentatce / Modulované měření modulu pružnosti
Poslední úprava: Kopecký Vladimír, RNDr., Ph.D. (21.03.2024)