|
||
Technologie přípravy krystalů a tenkých vrstev. Struktura a vlastnosti tenkých vrstev (tloušťka, drsnost, povrchová
energie, napětí, textury atd.). Studium nanočástic. Rozptyl světla (DLS), Ramanova a IČ spektroskopie. Další
vybrané spektroskopické a jaderné metody. Exkurze.
V předmětu jsou uvedeny principy a charakteristiky jednotlivých metod, jejich možnosti a případná omezení. V
praktické části budou studenti seznámeni s typickými demonstračními úlohami k jednotlivým skupinám metod. Na
přednáškách i cvičeních se podílí několik vyučujících.
Poslední úprava: Mikšová Kateřina, Mgr. (14.05.2019)
|
|
||
Předmět je zakončen ústní zkouškou. Podmínkou pro připuštění ke zkoušce je zápočet. K zápočtu je nutná účast na praktické části výuky a vypracování požadovaných referátů ze zadaných úloh. Referát se odevzdává jeden za skupinu (ve skupině 1-3 studenti). Poslední úprava: Štěpánková Helena, prof. RNDr., CSc. (14.06.2019)
|
|
||
Anders Lund, Masaru Shiotani, Shigetaka Shimada, Principles and applications of ESR spectroscopy, Springer 2011 V. Kuperman, Magnetic Resonance Imagining, Academic Press, Illinois (2000) Bernhard Blumich, Essential NMR, Springer 2005 J.N. Mundy, S.J. Rothman, M.J. Fluss, L.C. Smedskjaer, Methods of Experimental Physics, Vol. 21 Solid State: Nuclear Methods, Academic Press, Orlando (1983) Hiroyuki Fujiwara, Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications, John Wiley & Sons, 2007 J. M. Hollas: Modern spectroscopy, J. Wiley, 2004 E.de Hoffmann, V. Stroobant: Mass Spectrometry. Principles and Applications, Wiley-Interscience, 2007 Dynamic Light Scattering: With Applications to Chemistry, Biology, and Physics (Dover Books on Physics)by by Bruce J. Berne Marion Birkholz: Thin Film Analysis by X-Ray Scattering. Wiley 2006. Poslední úprava: Štěpánková Helena, prof. RNDr., CSc. (14.06.2019)
|
|
||
Zkouška je ústní se zadáním tří otázek z probírané tématiky a možností přípravy na místě. Dále pak jsou možné doplňující krátké otázky. Zkouší zpravidla více vyučujících. Ke zkoušce je vyžadován zápočet. Poslední úprava: Kužel Radomír, prof. RNDr., CSc. (06.10.2017)
|
|
||
Růst krystalů Příprava tenkých vrstev. Měření tloušťky tenkých vrstev, drsnosti a povrchové energie. Elipsometrie. Struktura povrchů a tenkých vrstev. Napětí a přednostní orientace. Studium napětí a textur v tenkých vrstvách, měření reflektivity Diagnostika plazmové polymerace (hmotnostní spektroskopie, optická emisní spektroskopie) Ramanova a IČ spektroskopie Elektronová paramagnetická (spinová) rezonance EPR (ESR), spektroskopie v kondenzovaných látkách. Zobrazování pomocí jaderných metod MR Imaging Studium nanočástic pomocí DLS (dynamický rozptyl světla)
Poslední úprava: Kužel Radomír, prof. RNDr., CSc. (22.09.2014)
|