|
|
|
||
Poslední úprava: T_KMF (16.05.2001)
|
|
||
Poslední úprava: RNDr. Jan Prokeš, CSc. (13.06.2019)
F. Kremer, A. Schönhals (eds.): Broadband Dielectric Spectroscopy, Springer 2003, kapitola 2 (případně 3, 12 a 13) J.P. Rundt, J.J. Fitzgerald (eds.): Dielectric Spectroscopy of Polymeric Materials, American Chemical Society 1997, kapitola 2 M. Honda: The Impedance Measurement Handbook, Yokogawa-Hewlett-Packard LTD. 1989 D.K. Schroder: Semiconductor Material and Device Characterization, John Wiley & Sons, Inc. 1998, kapitoly 1.2, 2.2, 2.5 Keithley: Low Level Measurements Handbook, 5th edition, Keithely Instruments, Inc. 1998 |
|
||
Poslední úprava: RNDr. Jan Prokeš, CSc. (12.10.2017)
Zkouška sestává z ústní části. Požadavky u zkoušky odpovídají sylabu předmětu v rozsahu, který byl prezentován na přednášce. |
|
||
Poslední úprava: RNDr. Jan Prokeš, CSc. (13.06.2019)
Základy měření impedance, vliv parazitních hodnot - skutečná, efektivní a indikovaná hodnota, přehled měřicích metod, princip mostu s automatickým vyrovnáním, způsoby připojení vzorku, eliminace parazitních hodnot, kalibrace a kompenzace, příklady měření a přístrojů. 2. Měření malých napětí, malých proudů a velkých odporů. Charakteristika elektrometru, pikoampermetru a nanovoltmetru, přesnost měření, charakteristika izolačních materiálů, vliv jejich parazitních efektů, význam stínění a guardování, princip triaxového připojení, šum a drift. 3. Měření transportních jevů. Problematika kontaktů, obecné podmínky měření, metody měření koncentrace nositelů proudu, elektrické vodivosti, Hallovy konstanty, termoelektrické síly, tepelné vodivosti. 4. Měření základních parametrů nerovnovážných nositelů proudu. Měření doby života, měření difúzní délky, měření povrchové rekombinace. 5. Stanovení základních parametrů parametrů poruch v polovodičích. Vymezení pojmů, přehled měřicích metod, jejich srovnání, specifika kapacitních metod, přednosti a příklady použití. 6. Problematika šumu. Typy šumu, zdroje, matematický popis, metody měření šumu. |