|
|
|
||
|
Fyzikální principy rastrovacích mikroskopií v blízkém poli. Rastrovací tunelová mikroskopie (STM), mikroskopie atomárních
sil (AFM) a příbuzné techniky. Použití, meze rozlišení a zobrazení, srovnání s jinými metodami analýzy povrchů.
Poslední úprava: T_KEVF (24.05.2007)
|
|
||
|
Podmínkou zakončení předmětu je úspěšné složení zkoušky. Poslední úprava: Pavlů Jiří, doc. RNDr., Ph.D. (14.06.2019)
|
|
||
|
Güntherodt H.-J. and Wiesendanger R., Scanning Tunneling Microscopy I (General Principles and Applications to Clean and Adsorbate Covered Surfaces), 2nd. ed., Springer Series in Surf. Sci. 20, Springer Verlag, Berlin, Heidelberg, 1994
Wiesendanger R. and Güntherodt H.-J., Scanning Tunneling Microscopy II (Further Applications and Related Scanning Techniques), 2nd. ed., Springer Series in Surf. Sci. 28, Springer Verlag, Berlin, Heidelberg, 1995
Wiesendanger R. and Güntherodt H.-J., Scanning Tunneling Microscopy III (Theory of STM and Related Scanning Probe Methods), Springer Series in Surf. Sci. 29,Springer Verlag, Berlin, Heidelberg, 1993
Bai Ch., Scanning Tunneling Microscopy and its Application, Springer Series in Surf.Sci. 32, Springer Verlag, Berlin, Heidelberg, N.Y., 1992
Stroscio J. A. and Kaiser W. J., Scanning Tuneling Microscopy, Methods of Experimental Physics 27, Academic Press, Boston, 1993
Metody analýzy povrchů : Elektronová mikroskopie a difrakce (editoři L. Eckertová, L. Frank), Academia, Praha 1996, Mikroskopie na bázi tunelového jevu (Z. Knor), str. 187-229
Metody analýzy povrchů : Iontové, sondové a speciální metody (editoři L. Frank, J. Král), Academia, Praha 2002, kapitoly: (a) Rastrovací tunelová mikroskopie (STM) a příbuzné techniky (I. Ošťádal, P. Sobotík), str. 275-297 (b) Studium povrchů pomocí mikroskopie s rastrující sondou (V. Cháb), str. 301-320 (c) Rastrovací sondové mikroskopie v elektrochemii (P. Janda), str. 323-348 (d) Optická tunelová mikroskopie s lokální sondou (P. Tománek), str. 351-379
Monotematicky zaměřená čísla Čs. čas. fyz. A: 48 (No3-4)(1998), 51 (No1)(2001), 53 (No2)(2003) Se zaměřením na SPM techniky a jejich aplikace v ČR (sborníky z národních seminářů) Poslední úprava: T_KEVF (12.05.2014)
|
|
||
|
Výuka v ZS 2020 probíhá formou on-line přednášek. Více informací viz https://physics.mff.cuni.cz/kfpp/rozvrh.html Poslední úprava: Roučka Štěpán, doc. RNDr., Ph.D. (06.10.2020)
|
|
||
|
Zkouška je ústní, tvoří ji dvě otázky v souladu se sylabem přednášky. Požadované znalosti odpovídají rozsahu odpřednášené problematiky Poslední úprava: Pavlů Jiří, doc. RNDr., Ph.D. (14.06.2019)
|
|
||
|
1. Přehled a možnosti "tradičních" mikroskopií (transmisní elektronová, rastrovací elektronová, elektronový projektor, iontový projektor), fyzikální principy; charakteristika mikroskopií s rastrující sondou v blízkém poli (SPM). 2. Fyzikální princip rastrovací tunelové mikroskopie (STM), mody zobrazení v STM, meze rozlišení, tunelový jev, spektroskopie tunelujících elektronů, rastrovací tunelová spektroskopie; technická realizace STM, obecné problémy konstrukce mikroskopií s rastrující sondou v blízkém poli, srovnání STM s ostatními technikami. 3. STM a příbuzné techniky: rastrovací tunelová potenciometrie, rastrovací šumová mikroskopie (SNM), mikroskopie a spektroskopie balisticky emitovaných elektron? (BEEM a BEES), kapacitní tunelová mikroskopie, rastrovací tunelový teploměr. 4. Fyzikální principy silových mikroskopií s rastrující sondou (SFM): mikroskopie atomárních sil (AFM), magnetických sil (MFM), elektrických sil (EFM) a techniky zobrazení: (a) stejnosměrné (DC) kontaktní techniky: mód konstantní síly, konstantní výšky, tzv. error mode (chybový mód) s využitím zpětnovazebního signálu, zobrazení laterálních sil, zobrazení s využitím vodivosti hrotu a vzorku (spreading resistance imaging). (b) střídavé (AC) kontaktní techniky: mód s modulací síly, kontaktní EFM, akustická mikroskopie - AFAM a rezonanční spektroskopie. (c) semikontaktní techniky: semikontaktní mod, fázové zobrazení, semikontaktní chybový mód. (d) nekontakní techniky: nekontaktní mód, mód s frekvenční modulací. (e) víceprůchodové techniky: EFM, kapacitní mikroskopie, mikroskopie s Kelvinovou sondou, DC MFM, AC AFM, MFM se zobrazením pomocí disipace energie. Spektroskopie: síla(vzdálenost), zobrazení pomocí adhesivních sil, amplituda(vzdálenost), fáze(vzdálenost), frekvence(vzdálenost), "Full-resonance Spectroscopy". 5. Rastrovací optická mikroskopie v blízkém poli (SNOM) resp. rastrovací optická tunelová mikroskopie - fyzikální princip. Shear Force Microscopy. Módy zobrazení: transmisní, reflexní, luminiscenční. Poslední úprava: T_KEVF (12.05.2014)
|