Metody fyziky povrchů a tenkých vrstev I - NEVF515

• Anglický název: Methods of Physics of Surfaces and Thin Films I
• Zajišťuje: Katedra fyziky povrchů a plazmatu (32-KFPP)
• Fakulta: Matematicko-fyzikální fakulta
• Platnost: od 2023
• Semestr: letní
• E-Kredity: 3
• Rozsah, examinace: letní s.:2/0, Zk [HT]
• Počet míst: neomezen
• Minimální obsazenost: neomezen
• 4EU+: ne
• Virtuální mobilita / počet míst pro virtuální mobilitu: ne
• Stav předmětu: vyučován
• Jazyk výuky: čeština, angličtina
• Způsob výuky: prezenční
• Další informace: https://physics.mff.cuni.cz/kfpp/rozvrh.html
• Garant: doc. Mgr. Josef Mysliveček, Ph.D.
• Vyučující: doc. Mgr. Josef Mysliveček, Ph.D.
• Třída: DS, fyzika povrchů a rozhraní
• Kategorizace předmětu: Fyzika > Fyzika povrchů a ionisovaných prostředí

Anotace

čeština

V rámci přednášky bude posluchačům představeno spektrum experimentálních metod fyziky povrchů na příkladech aktuálních problémů řešených v současné fyzice povrchů. Přednáška je zaměřena na metody integrální a metody pracující v dalekém poli, které umožňují analýzu povrchů a tenkých vrstev v oblastech morfologie, krystalové struktury, elektronové struktury, chemického stavu a chemické reaktivity.

Poslední úprava: T_KEVF (09.05.2011)

angličtina

The course of electron spectroscopy is intended exclusively for graduate students, who need to acquire comprehensive knowledge of electron spectroscopic methods of surface analysis of solids. It deals namely with Auger Electron Spectroscopy, X-ray and Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy and Electron Energy Loss Spectroscopy, but also with less widely used methods like Elastic Peak Electron Spectroscopy, Appearance Potential Spectroscopy and Inverse or Two-photon Photoelectron Spectroscopy. Their principles and experimental set-ups as well as the issues of both qualitative and quantitative surface analysis are treated in detail.

Poslední úprava: T_KEVF (27.05.2002)

Podmínky zakončení předmětu

Podmínkou zakončení předmětu je úspěšné složení zkoušky.

Poslední úprava: Pavlů Jiří, doc. RNDr., Ph.D. (14.06.2019)

Literatura

Stefan Hufner: Photoelectron Spectroscopy, Principles and Aplications, Springer Verlag, 2006

Andrew Zangwill: Physics at Surfaces, Cambridge University Press, Cambridge 1992

Poslední úprava: T_KEVF (24.05.2007)

Požadavky ke zkoušce

Zkouška je ústní a student dostává otázky dle sylabu předmětu v rozsahu, který byl prezentován na přednáškách.

Poslední úprava: Pavlů Jiří, doc. RNDr., Ph.D. (14.06.2019)

Sylabus

čeština

Elektronově optické mikroskopie - Transmisní elektronová mikroskopie (TEM), mikroskopie pomalých elektronů (LEEM), mikroskopie fotoelektronů (PEEM). Difrakce - pomalých elektronů (LEED), analýza energetických křivek (IV-LEED), analýza profilu stop (SPA-LEED), rychlých elektronů (RHEED), fotoelektronů (XPD), rentgenová (XRD, XSW). Spektroskopie ztráty energie elektronů (EELS), infračervené spektroskopie (RAIRS, SERS). Fotoelektronová spektroskopie - buzená rentgenovými paprsky (XPS), vysoce energetickými rentgenovými paprsky (HXPS), synchrotroonovým zářením (SRPES), ultrafialovými paprsky (UPS), úhlově rozlišená (ARPES), spinově polarizovaná (SP-XPS), inverzní (IPS).

Poslední úprava: T_KEVF (09.05.2011)

angličtina

Photoelectron spectroscopy (PES), synchrotron radiation PES, analysis of satellites, resonance PES, EXAFS, photoelectron diffraction, local structure study, angle resolved ultraviolet PES (ARUPS), band mapping, depth profiling by angle and energy resolved PES, high energy PES (HAXPES).

Poslední úprava: T_KEVF (06.05.2009)