|
|
|
||
|
Fotoelektronová spektroskopie (XPS), úhlově rozlišená fotoelektronová spektroskopie (ARUPS), fotoelektronová difrakce (XPD), difrakce rychlých elektronů na odraz (RHEED) s rotujícím vzorkem, energetické filtrování RHEED
difrakčních obrazců, příprava čistých povrchů a ultra tenkých orientovaných vrstev, teorie a experiment, zpracování získaných dat. Praktické ukázky měření a zpracování experimentálních dat.
Poslední úprava: Kudrnová Hana, Mgr. (12.01.2018)
|
|
||
|
[1] Ch. Kittel, Úvod do fyziky pevných látek, Academia, Praha 1985. [2] S. Suga, A. Sekiyama, Photoelectron Spectroscopy, Bulk and Surface Electronic Structure, Springer Series in Optical Sciences 176, Springer 2014 [3] L. Eckertová a kol., Metody analýzy povrchů, elektronová spektroskopie, Academia, Praha 1990. [4] S. Hüfner, Photoelectron Spectroscopy, Principles and Applications, Springer-Verlag 2003 [5] L. Eckertová a kol., Metody analýzy povrchů, elektronová mikroskopie a difrakce, Academia, Praha 1996. [6] W. Braun, Applied RHEED - Reflection High-Energy Electron Diffraction during crystal growth, Springer - Verlag, Heidelberg 1999. [7] Gwo-Ching Wang, Toh-Ming Lu, RHEED Transmission Mode and Pole Figures, Thin Film and Nanostructure Texture Analysis, Springer 2014 Poslední úprava: Kudrnová Hana, Mgr. (12.01.2018)
|
|
||
|
1) Příprava čistých povrchů, čištění monokrystalických povrchů, příprava tenkých orientovaných vrstev 2) Fotoelektronová spektroskopie (XPS), úhlově rozlišená fotoelektronová spektroskopie (ARUPS), fotoelektronová difrakce (XPD): teoretické základy úhlově rozlišených metod, teoretické základy zpracování dat, experimentální vybavení, praktická cvičení v laboratoři, měření a zpracování experimentálních dat. Moderní aplikace metod založených na fotoelektronové spektroskopii. 3) Elektronová difrakce RHEED, teoretické základy vyhodnocení difrakčních obrazců, mapování reciprokého prostoru metodou rotujícího vzorku, jevy neelastického rozptylu elektronů v difrakčních obrazcích, Kikuchiho linie, energetické filtrování RHEED difrakčních obrazců. Praktické ukázky měření a zpracování experimentálních dat. Moderní aplikace metod založených na elektronové difrakci RHEED. Charakterizace nanostruktur pomocí difrakce elektronů. Poslední úprava: Kudrnová Hana, Mgr. (12.01.2018)
|