|
|
|
||
|
Struktura pevných látek, základy krystalografie, prvky souměrnosti, rovinné a prostorové krystalové mříže, krystalové soustavy, Millerovy indexy. Teorie elektronové difrakce, geometrický a strukturní faktor, reciproká mříž, Ewaldova konstrukce, vyhodnocování difrakčních obrazců. Transmisní elektronová mikroskopie a difrakce, LEED, RHEED, XPD. Aplikace elektronové difrakce ve fyzice tenkých vrstev.
Poslední úprava: T_KEVF (16.05.2005)
|
|
||
|
Podmínkou zakončení předmětu je úspěšné složení zkoušky, tj. hodnocení zkoušky známkou "výborně", "velmi dobře" nebo "dobře". Zkouška musí být složena v období předepsaném harmonogramem akademického roku, ve kterém student předmět zapsal. Zkouška se provádí ústní formou. Podmínkou pro konání zkoušky je získání zápočtu z cvičení. Požadavky u ústní části zkoušky odpovídají sylabu předmětu v rozsahu, který byl prezentován na přednášce. Známka ze zkoušky se stanovuje na základě hodnocení ústní části a písemného zápočtového testu. Podmínkou pro získání zápočtu je účast na dvou demonstračních praktických úlohách o metodách LEED a RHEED včetně zpracování naměřených dat ve formě zjednodušeného protokolu a složení písemného testu. Písemný test sestává z několika otázek a příkladů podobných těm probíraným a řešeným v průběhu cvičení. Poslední úprava: Pavlů Jiří, doc. RNDr., Ph.D. (04.06.2020)
|
|
||
|
V. Valvoda, Milena Polcarová, Pavel Lukáč, Základy strukturní analýzy, Karolinum, Praha 1992. I. Kraus, Struktura a vlastnosti krystalů, Academia, Praha 1993. Ch. Kittel, Úvod do fyziky pevných látek, Academia, Praha 1985. L. Eckertová a kol., Metody analýzy povrchů, elektronová mikroskopie a difrakce, Academia, Praha 1996. B. Smola, Transmisní elektronová difrakce ve fyzice pevných látek, SPN Praha, Praha 1983. W. Braun, Applied RHEED - Reflection High-Energy Electron Diffraction during crystal growth, Springer - Verlag, Heidelberg 1999. Poslední úprava: Mašek Karel, prof. RNDr., Ph.D. (28.02.2018)
|
|
||
|
Výuka v ZS 2020 probíhá formou on-line přednášek. Více informací viz https://physics.mff.cuni.cz/kfpp/rozvrh.html Poslední úprava: Roučka Štěpán, doc. RNDr., Ph.D. (06.10.2020)
|
|
||
|
Zkouška se provádí ústní formou. Podmínkou pro konání zkoušky je získání zápočtu z cvičení. Požadavky u ústní části zkoušky odpovídají sylabu předmětu v rozsahu, který byl prezentován na přednášce. Známka ze zkoušky se stanovuje na základě hodnocení ústní části a písemného zápočtového testu. Alespoň vyhovující složení písemného testu je podmínkou pro získání zápočtu. Písemný test sestává z několika otázek a příkladů podobných těm probíraným a řešeným v průběhu cvičení. Požadavky u ústní zkoušky odpovídají sylabu předmětu v rozsahu, který byl prezentován na přednášce. Poslední úprava: Mašek Karel, prof. RNDr., Ph.D. (11.05.2020)
|
|
||
|
1. Struktura pevných látek, základy krystalografie
Historie, klasická definice krystalu, makroskopická souměrnost krystalů, prvky souměrnosti a jejich značení, stereografická projekce, bodové grupy, rovinné a prostorové krystalové mříže, krystalové soustavy, značení směrů a rovin, Millerovy indexy, Miller-Bravaisovy indexy, mezirovinné vzdálenosti, základní typy krystalových struktur. 2. Elektronová difrakce Geometrická teorie difrakce, Laueho difrakční podmínky, Braggův zákon, kinematická teorie difrakce, geometrický a strukturní faktor, reciproká mříž, Ewaldova konstrukce, dynamické teorie, vyhodnocování difrakčních obrazců, profilová analýza. 3. Metody elektronové difrakce LEED - difrakce nízkoenergetických elektronů, RHEED - difrakce vysokoenergetických elektronů na odraz, TEM - transmisní elektronová mikroskopie a difrakce, XPD - fotoelektronová difrakce. 4. Aplikace elektronové difrakce ve fyzice povrchů a tenkých vrstev Ostrůvkové struktury a nanostruktury, modelové katalyzátory a senzory, tenké vrstvy. Poslední úprava: Mašek Karel, prof. RNDr., Ph.D. (10.05.2020)
|