|
|
|
||
Pokročilé metody zkoumání povrchů. Fotoelektronová spektroskopie (FS): kvantitativní analýza, rezonanční
FS, satelity v konečném stavu, studium pásové struktury krystalů metodou FS, XAS-NEXAFS-EXAFS, HAXPES,
úhlově rozlišená FS, fotoelektronová difrakce (XPD). Elektronová difrakce: dynamická teorie - difrakce
nízkoenergetických elektronů (LEED) a difrakce rychlých elektronů na odraz (RHEED).
Poslední úprava: Pavlů Jiří, doc. RNDr., Ph.D. (14.05.2018)
|
|
||
Podmínkou zakončení předmětu je úspěšné složení zkoušky, tj. hodnocení zkoušky známkou "výborně", "velmi dobře" nebo "dobře". Zkouška musí být složena v období předepsaném harmonogramem akademického roku, ve kterém student předmět zapsal. Poslední úprava: Pavlů Jiří, doc. RNDr., Ph.D. (14.06.2019)
|
|
||
1. Zangwill A.: Physics at Surfaces, Cambridge University Press, 1992 2. D. Briggs and M.P. Seah, Practical Surface Analysis (Volume 1), Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy, Wiley 1996 3. S. Hüfner, Photoelectron Spectroscopy, Principles and Applications, Springer-Verlag 2003 4. Lüth, H.: Solid surfaces, Interfaces and thin films, Springer, Berlin, 2001 5. S. Suga, A. Sekiyama, Photoelectron Spectroscopy, Bulk and Surface Electronic Structure, Springer Series in Optical Sciences 176, Springer 2014 6. M.A. van Hove, W.H. Weinberg, C.M. Chan: Low-Energy Electron Diffraction, Springer-Verlag, Berlin 1986 Poslední úprava: Pavlů Jiří, doc. RNDr., Ph.D. (14.05.2018)
|
|
||
Výuka v ZS 2020 probíhá formou on-line přednášek. Více informací viz https://physics.mff.cuni.cz/kfpp/rozvrh.html Poslední úprava: Roučka Štěpán, doc. RNDr., Ph.D. (06.10.2020)
|
|
||
Zkouška je ústní. Požadavky ke zkoušce odpovídají sylabu přednášky v rozsahu, který byl prezentován v průběhu přednášky. Poslední úprava: Mašek Karel, prof. RNDr., Ph.D. (09.10.2017)
|
|
||
1) Kvantitativní analýza chemického složení metodou fotoelektronové spektroskopie (FS), FS valenčního pásu krystalů, vlnový vektor počátečního a konečného stavu, model volných elektronů v konečném stavu, studium pásové struktury při normálové emisi a proměnné energii fotonů, fotoelektronová spektroskopie s využitím synchrotronového záření. Studium valenčního pásu metodou úhlově rozlišené FS, ARUPS. Studium lokální struktury povrchů metodou difrakce fotoelektronů, úhlově rozlišená FS vnitřních hladin. Pásová struktura dvoudimenzionálních krystalů. Určování ploch konstantní energie, Fermiho plochy. Spinově rozlišená FS, majoritní a minoritní pásy. Inverzní FS. Excitace satelitů v konečném stavu. Resonanční FS. Absorpční rentgenová spektroskopie (XAS), NEXAFS-XANES, EXAFS. FS buzená tvrdým zářením - HAXPES.
2) Meze platnosti kinematické teorie difrakce, dynamická teorie difrakce elektronů na povrchu pevné látky, užití dynamické teorie metodami LEED a RHEED.
3) Aplikace spektroskopických a elektronově difrakčních metod. Poslední úprava: Pavlů Jiří, doc. RNDr., Ph.D. (14.05.2018)
|