Mikroskopie povrchů a tenkých vrstev - NEVF106
Anglický název: Microscopy of Surfaces and Thin Films
Zajišťuje: Katedra fyziky povrchů a plazmatu (32-KFPP)
Fakulta: Matematicko-fyzikální fakulta
Platnost: od 2020
Semestr: zimní
E-Kredity: 5
Rozsah, examinace: zimní s.:2/1, Z+Zk [HT]
Počet míst: neomezen
Minimální obsazenost: neomezen
4EU+: ne
Virtuální mobilita / počet míst pro virtuální mobilitu: ne
Stav předmětu: vyučován
Jazyk výuky: čeština, angličtina
Způsob výuky: prezenční
Další informace: https://physics.mff.cuni.cz/kfpp/rozvrh.html
Garant: prof. RNDr. Ivan Ošťádal, CSc.
doc. RNDr. Pavel Sobotík, CSc.
doc. RNDr. Pavel Kocán, Ph.D.
Vyučující: doc. RNDr. Pavel Kocán, Ph.D.
prof. RNDr. Ivan Ošťádal, CSc.
Výsledky anket   Termíny zkoušek   Rozvrh ZS   Nástěnka   
Anotace -
Základy rastrovacích mikroskopií v blízkém poli (STM, AFM, SNOM) a dalších odvozených technik. Fyzikální principy, oblasti použití ve fyzice povrchů a tenkých vrstev, výhody a omezení. Srovnání s tradičními technikami elektronových mikroskopií (TEM, SEM), mikroskopy FEM, FIM a LEEM. Nejnovější modifikace a možnosti mikroskopických technik.
Poslední úprava: T_KEVF (07.05.2005)
Podmínky zakončení předmětu

Získání zápočtu je podmínkou pro konání zkoušky.

Udělení zápočtu je podmíněno absolvováním závěrečného testu, jehož otázky budou pokrývat problematiky probírané během cvičení.

Povaha kontroly studia předmětu umožňuje opakování této kontroly, zápočet tedy opakovat lze.

Poslední úprava: Pavlů Jiří, doc. RNDr., Ph.D. (03.06.2020)
Literatura

Wiesendanger R. and Güntherodt H.-J., Scanning Tunneling Microscopy II (Further Applications and Related Scanning Techniques), 2nd. ed., Springer Series in Surf. Sci. 28, Springer Verlag, Berlin, Heidelberg, 1995.

Bai Ch., Scanning Tunneling Microscopy and its Application, Springer Series in Surf.Sci. 32, Springer Verlag, Berlin, Heidelberg, N.Y., 1992.

Chen C.J., Introduction to Scanning Tunneling Microscopy, Oxford Univ. Press, Oxford 1993

Metody analýzy povrchů: iontové, sondové a speciální metody. Editoři: L. Frank, J. Král, Academia, Praha 2002.

Poslední úprava: T_KEVF (07.05.2005)
Metody výuky -

Výuka v ZS 2021 probíhá prezenčně podle rozvrhu (vizhttps://physics.mff.cuni.cz/kfpp/rozvrh.html)

Poslední úprava: Ošťádal Ivan, prof. RNDr., CSc. (04.10.2021)
Požadavky ke zkoušce

Zkouška je ústní, tři otázky vycházejí ze sylabu přednášky a požadované znalosti odpovídají odpřednášenému rozsahu.

Poslední úprava: Pavlů Jiří, doc. RNDr., Ph.D. (03.06.2020)
Sylabus -
1. Základy rastrovacích mikroskopií v blízkém poli (STM, AFM, SNOM) a dalších technik
Fyzikální principy mikroskopií v blízkém poli: rastrovací tunelová mikroskopie (STM), mikroskopie atomárních sil (AFM), optické rastrovací mikroskopie v blízkém poli (SNOM). Techniky odvozené od STM: spektroskopie tunelujících elektronů - STS, mikroskopie balisticky emitovaných elektronů - BEES, rastrovací tunelová potenciometre a šumová mikroskopie, kapacitní tunelová mikroskopie, rastrovací tunelový teploměr. Modifikace techniky AFM - rastrovací silové mikroskopie (SFM): mikroskopie magnetických (MFM) a elektrostatických sil (EFM), techniky stejnosměrné a střídavé, kontaktní, semi-kontaktní a nekontaktní, jedno- a víceprůchodové.

2. Fyzikální principy, oblasti použití ve fyzice povrchů a tenkých vrstev, výhody a omezení
Rozlišovací schopnost, mody měření, otázky konstrukce a provozu rastrovacích mikroskopů v blízkém poli, využití ve fyzice povrchů a tenkých vrstev.

3. Srovnání s tradičními technikami elektronových mikroskopií
Srovnání s dalšími technikami - transmisní elektronová mikroskopie (TEM), rastrovací elektronová mikroskopie (SEM), autoemisní mikroskop (FEM), iontový projektor (FIM) a mikroskopie pomalými elektrony (LEEM). Nejnovější modifikace a možnosti mikroskopických technik při studiu povrchů a tenkých vrstev.

Poslední úprava: T_KEVF (13.05.2005)