Mikroskopie povrchů a tenkých vrstev - NEVF106

• Anglický název: Microscopy of Surfaces and Thin Films
• Zajišťuje: Katedra fyziky povrchů a plazmatu (32-KFPP)
• Fakulta: Matematicko-fyzikální fakulta
• Platnost: od 2020
• Semestr: zimní
• E-Kredity: 5
• Rozsah, examinace: zimní s.:2/1, Z+Zk [HT]
• Počet míst: neomezen
• Minimální obsazenost: neomezen
• 4EU+: ne
• Virtuální mobilita / počet míst pro virtuální mobilitu: ne
• Stav předmětu: vyučován
• Jazyk výuky: čeština, angličtina
• Způsob výuky: prezenční
• Další informace: https://physics.mff.cuni.cz/kfpp/rozvrh.html
• Garant: prof. RNDr. Ivan Ošťádal, CSc.; doc. RNDr. Pavel Sobotík, CSc.; doc. RNDr. Pavel Kocán, Ph.D.
• Vyučující: doc. RNDr. Pavel Kocán, Ph.D.; prof. RNDr. Ivan Ošťádal, CSc.

Anotace

čeština

Základy rastrovacích mikroskopií v blízkém poli (STM, AFM, SNOM) a dalších odvozených technik. Fyzikální principy, oblasti použití ve fyzice povrchů a tenkých vrstev, výhody a omezení. Srovnání s tradičními technikami elektronových mikroskopií (TEM, SEM), mikroskopy FEM, FIM a LEEM. Nejnovější modifikace a možnosti mikroskopických technik.

Poslední úprava: T_KEVF (07.05.2005)

angličtina

Introduction in near field scanning microscopy methods (STM, AFM, SNOM) and related techniques. Physical principles, applications in physics of thin films and surfaces, advantages and limits. Comparison with traditional electron microscopy techniques (TEM, SEM), field emission and field ion microscopes (FEM, FIM) and LEEM technique. The latest modifications and applicability of microscopy techniques.

Poslední úprava: T_KEVF (07.05.2005)

Podmínky zakončení předmětu

Získání zápočtu je podmínkou pro konání zkoušky.

Udělení zápočtu je podmíněno absolvováním závěrečného testu, jehož otázky budou pokrývat problematiky probírané během cvičení.

Povaha kontroly studia předmětu umožňuje opakování této kontroly, zápočet tedy opakovat lze.

Poslední úprava: Pavlů Jiří, doc. RNDr., Ph.D. (03.06.2020)

Literatura

Wiesendanger R. and Güntherodt H.-J., Scanning Tunneling Microscopy II (Further Applications and Related Scanning Techniques), 2nd. ed., Springer Series in Surf. Sci. 28, Springer Verlag, Berlin, Heidelberg, 1995.

Bai Ch., Scanning Tunneling Microscopy and its Application, Springer Series in Surf.Sci. 32, Springer Verlag, Berlin, Heidelberg, N.Y., 1992.

Chen C.J., Introduction to Scanning Tunneling Microscopy, Oxford Univ. Press, Oxford 1993

Metody analýzy povrchů: iontové, sondové a speciální metody. Editoři: L. Frank, J. Král, Academia, Praha 2002.

Poslední úprava: T_KEVF (07.05.2005)

Metody výuky

čeština

Výuka v ZS 2021 probíhá prezenčně podle rozvrhu (vizhttps://physics.mff.cuni.cz/kfpp/rozvrh.html)

Poslední úprava: Ošťádal Ivan, prof. RNDr., CSc. (04.10.2021)

angličtina

The lecture is conducted on-line in the winter semester 2020. For more information, see https://physics.mff.cuni.cz/kfpp/rozvrh.html

Poslední úprava: Roučka Štěpán, doc. RNDr., Ph.D. (06.10.2020)

Požadavky ke zkoušce

Zkouška je ústní, tři otázky vycházejí ze sylabu přednášky a požadované znalosti odpovídají odpřednášenému rozsahu.

Poslední úprava: Pavlů Jiří, doc. RNDr., Ph.D. (03.06.2020)

Sylabus

čeština

1. Základy rastrovacích mikroskopií v blízkém poli (STM, AFM, SNOM) a dalších technik
Fyzikální principy mikroskopií v blízkém poli: rastrovací tunelová mikroskopie (STM), mikroskopie atomárních sil (AFM), optické rastrovací mikroskopie v blízkém poli (SNOM). Techniky odvozené od STM: spektroskopie tunelujících elektronů - STS, mikroskopie balisticky emitovaných elektronů - BEES, rastrovací tunelová potenciometre a šumová mikroskopie, kapacitní tunelová mikroskopie, rastrovací tunelový teploměr. Modifikace techniky AFM - rastrovací silové mikroskopie (SFM): mikroskopie magnetických (MFM) a elektrostatických sil (EFM), techniky stejnosměrné a střídavé, kontaktní, semi-kontaktní a nekontaktní, jedno- a víceprůchodové.

2. Fyzikální principy, oblasti použití ve fyzice povrchů a tenkých vrstev, výhody a omezení
Rozlišovací schopnost, mody měření, otázky konstrukce a provozu rastrovacích mikroskopů v blízkém poli, využití ve fyzice povrchů a tenkých vrstev.

3. Srovnání s tradičními technikami elektronových mikroskopií
Srovnání s dalšími technikami - transmisní elektronová mikroskopie (TEM), rastrovací elektronová mikroskopie (SEM), autoemisní mikroskop (FEM), iontový projektor (FIM) a mikroskopie pomalými elektrony (LEEM). Nejnovější modifikace a možnosti mikroskopických technik při studiu povrchů a tenkých vrstev.

Poslední úprava: T_KEVF (13.05.2005)

angličtina

1. Introduction to near field microscopy techniques
Physical principles of near field microscopy techniques: scanning tunneling microscopy (STM), atomic force microscopy (AFM), scanning near field optical microscopy (SNOM). Other related techniques: scanning tunneling spectroscopy - STS, ballistic electron emission microscopy - BEEM, scanning tunneling potentiometry - SPT, scanning noise microscopy - SNM, scanning capacitance microscopy, scanning noise microscopy and scanning thermal microscopy. Other scanning force microscopy techniques: magnetic force (MFM) and electric force (EFM) microscopies, DC and AC techniques, contact, semi-contact and non-contact modes, single and multiple path techniques.

2. Physical principles, applications
Resolution, modes of measurement, construction. Application in surface and thin films physics, comparison with other techniques - transmission electron microscopy (TEM), scanning electron microscopy (SEM), field emission microscopy (FEM), field ion microscopy, low energy electron microscopy (LEEM).

3. Latest modifications
The latest modifications and applicability of microscopy techniques in study of surfaces and thin films.

Poslední úprava: T_KEVF (13.05.2005)