|
|
|
||
Poslední úprava: prof. RNDr. Miroslav Štěpánek, Ph.D. (05.03.2019)
|
|
||
Poslední úprava: prof. RNDr. Miroslav Štěpánek, Ph.D. (05.03.2019)
Egerton, R.F. Physical Principles of Electron Microscopy, Springer Verlag 2007 Meyer, E., Hug, H.J., Bennewitz, R. Scanning Probe Microscopy, Spinger Verlag 2004 Zemb, T., Lindner, P. (Eds.) Neutrons, X-rays and Light. Scattering Methods Applied to Soft Condensed Matter, North Holland 2002 |
|
||
Poslední úprava: prof. RNDr. Miroslav Štěpánek, Ph.D. (15.02.2021)
Forma zkoušky: ústní v rozsahu přednášené látky. Zkouška se koná prezenční formou. |
|
||
Poslední úprava: prof. RNDr. Miroslav Štěpánek, Ph.D. (04.02.2022)
1. Elektronová mikroskopie Základní principy zobrazování elektronovou mikroskopií, zvětšení, bodové rozlišení, kontrast, chromatická a sférická aberace. Transmisní a skenovací elektronová mikroskopie, detekce v SEM/STEM metodách, interakce elektronů se vzorkem, metody EDS a EELS. Příprava vzorků, kryogenní transmisní elektronová mikroskopie 2. Mikroskopie skenující sondou Základní principy zobrazování SPM, mikroskopie atomárních sil v kontaktním, semikontaktním a nekontakním módu, skenovací tunelová mikroskopie 3. Rozptylové metody Úvod do teorie rozptylu, rozpylový vektor, rozptylová délka a rozptylový průřez, tvarový a strukturní faktor. Analýza rozptylových křivek. Dynamický rozptyl světla, autokorelační funkce intenzity, translační a rotační difúzní koeficient z DLS. Měření rozptylu světla, rentgenového záření a neutronů - zdroje záření, detektory, kalibrace.
|