|
|
|
||
Poslední úprava: doc. RNDr. Josef Pešička, CSc. (23.04.2014)
|
|
||
Poslední úprava: RNDr. Jitka Stráská, Ph.D. (14.06.2019)
Zápočet je udělován na základě aktivní účasti na cvičení (výuce na skenovacím elektronovém mikroskopu na Katedře fyziky materiálů). |
|
||
Poslední úprava: doc. RNDr. Josef Pešička, CSc. (23.04.2014)
Joseph Goldstein: Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, Springer, 2003. |
|
||
Poslední úprava: doc. RNDr. Josef Pešička, CSc. (29.04.2016)
Příprava vzorků pro elektronovou mikroskopii. Hlavní součásti skenovacího elektronového mikroskopu, principy jeho fungování. Základy ovládání elektronového mikroskopu. Zobrazování pomocí sekundárních elektronů. Zobrazování pomocí zpětně odražených elektronů. Chemická analýza pomocí EDX a WDX. Analýza krystalografické orientace a textury metodou EBSD. Další pokročilé techniky. |