The main goal of this course is to make students acquainted with X-ray lasers and their optics. During the last
decade, the X-ray lasers passed through an extensive development. Due to their unique properties (extremely
short wavelengths < 30 nm; ultra-high peak intensitites), the X-ray lasers represent important scientific tools in
various fields of research, e.g. material research, warm dense matter, biophysics, and diffraction imaging.
Principles of X-ray lasers, X-ray optics, and applications are the main subjects of this course.
Last update: G_F (28.05.2011)
Cílem této přednášky je uvést posluchače do problematiky rentgenových laserů. Tyto zdroje intenzivního
koherentního rentgenového zářeni prošly v minulém desetiletí bouřlivým vývojem. Díky svým unikátním
vlastnostem, především velmi krátkým vlnovým délkám (< 30 nm) a vysokým špičkovým intenzitám, jsou tyto lasery
v současnosti využívány v mnoha vědních oborech např. v materiálovém výzkumu, při studiu horkého hustého
plazmatu, v biofyzice či difrakčním zobrazování nanostruktur. Posluchač bude seznámen s principy RTG laserů,
jejich optikou a aplikacemi.
Aim of the course -
Last update: G_F (28.05.2011)
The main goal of this course is to make students acquainted with X-ray lasers and their optics.
Last update: G_F (25.05.2011)
Cílem této přednášky je uvést posluchače do problematiky rentgenových laserů.
Course completion requirements -
Last update: Mgr. Jaromír Chalupský (07.06.2019)
Oral exam
Last update: Mgr. Jaromír Chalupský (07.06.2019)
Ústní zkouška
Literature -
Last update: G_F (28.05.2011)
D. Attwood: Soft X-Rays and Extreme Ultraviolet Radiation: Principles and Applications, Cambridge University Press, Cambridge 1999.
P. Jaeglé: Coherent Sources of XUV Radiation: Soft X-Ray Lasers and High-Order Harmonic Generation, Springer-Verlag, Berlin-Heidelberg-New York 2006.
E. L. Saldin, E. A. Schneidmiller, M. V. Yurkov: The Physics of Free Electron Lasers, Springer-Verlag, Berlin-Heidelberg-New York 2000.
E. Spiller: Soft X-Ray Optics, SPIE Press, Bellingham 1994.
A. Michette: Optical Systems for Soft X-Rays, Plenum Press, NY-London 1986.
Last update: G_F (28.05.2011)
D. Attwood: Soft X-Rays and Extreme Ultraviolet Radiation: Principles and Applications, Cambridge University Press, Cambridge 1999.
P. Jaeglé: Coherent Sources of XUV Radiation: Soft X-Ray Lasers and High-Order Harmonic Generation, Springer-Verlag, Berlin-Heidelberg-New York 2006.
E. L. Saldin, E. A. Schneidmiller, M. V. Yurkov: The Physics of Free Electron Lasers, Springer-Verlag, Berlin-Heidelberg-New York 2000.
E. Spiller: Soft X-Ray Optics, SPIE Press, Bellingham 1994.
A. Michette: Optical Systems for Soft X-Rays, Plenum Press, NY-London 1986.
Teaching methods -
Last update: G_F (28.05.2011)
Lecture
Last update: G_F (25.05.2011)
Přednáška
Requirements to the exam -
Last update: Mgr. Jaromír Chalupský (07.06.2019)
The oral exam consists of two parts. The first part is devoted to derivations of fundamental physical formulas related to X-ray sources and optics. The second part is dedicated to a general discussion about a selected topic. The exam takes approximately 60 minutes including 30 minutes for preparation.
Last update: Mgr. Jaromír Chalupský (07.06.2019)
Ústní zkouška je složena ze dvou částí. První část je věnována odvozením základních fyzikálních vztahů souvisejících s problematikou rentgenových zdrojů a optiky. Druhá část je věnována obecné rozpravě nad vybraným tématem. Časová náročnost zkoušky je zhruba 60 min včetně 30 min na přípravu.
Syllabus -
Last update: G_F (28.05.2011)
1) X-ray domain in the spectrum of electromagnetic radiation. Coherent and incoherent X-ray sources. Free-electron lasers. Plasma-based lasers (laser and discharge plasma as an active medium). High-order harmonics generation. Existing X-ray sources: technical details and parameters.
2) X-ray laser beams and their propagation. Handling the X-ray laser beams: X-ray mirrors, beam splitters, monochromators, and other optical elements. Numerical laser beam propagation. Wave-front curvature and focusing performance. Wave-front in the Zernike basis. Gaussian and non-Gaussian beams. Maréchal condition and Strehl ratio. Methods of X-ray laser beam characterization: Hartmann sensor, luminescence screens, ablation imprints, and others.
3) X-ray laser-matter interaction: photoelectric effect and Compton scattering. Absorption, reflection, and scattering of X-ray radiation. X-ray detectors and radiation dosimetry. Measurement of temporal, spectral, and coherence properties of X-ray pulses and beams. Applications of intense X-ray radiation in diffraction imaging, science, and technology.
Last update: G_F (28.05.2011)
1) Vymezení rentgenové oblasti ve spektru elektromagnetického záření. Přehled koherentních a nekoherentních zdrojů rentgenového záření. Lasery na volných elektronech. Plazmové lasery s přechodovým resp. ustáleným ziskem; aktivní prostředí tvořené laserovým plazmatem a plazmatem elektrického výboje. Generování vysokých harmonických. Přehled konstrukcí a parametrů existujících rentgenových laserů a podobných zdrojů.
2) Rentgenové laserové svazky a jejich šíření. Manipulace s rentgenovými svazky: rentgenová zrcadla, děliče svazku, monochromátory a další optické prvky a uspořádání. Numerická propagace laserových svazků. Tvar vlnoplochy vs. kvalita fokusace. Vlnoplocha v bázi Zernikeových polynomů. Gaussovské a negaussovské svazky. Maréchalova podmínka a Strehlův poměr. Metody charakterizace rentgenových svazků: Hartmannův senzor, luminiscenční stínítka, ablační otisky a další.
3) Interakce rentgenového záření s hmotou - fotoefekt a Comptonův jev. Absorpce, odraz a rozptyl rentgenového záření. Detektory a dozimetry rentgenového záření. Měření časových, spektrálních a koherenčních vlastností rentgenových impulsů a svazků. Zobrazování pomocí intenzivního rentgenového záření. Aplikace velmi intenzivního rentgenového záření ve vědě a technice.
