Special seminar for undergraduate students of grade 4. The attendance of the seminar is required for students who intend to use electron microscope Jeol 2000 FX for their diploma thesis. Preparation of thin foils, the operation of the electron microscope, the observation of real structures, the use of image analysis in evaluation of TEM micrographs. The tuition will be adjusted according to the particular student´s needs in the diploma thesis.
Last update: doc. RNDr. Josef Pešička, CSc. (02.05.2019)
Speciální seminář pro 1., 2.r. nmgr FKSM a PGDS. Absolvování semináře je podmínkou pro užívání
elektronového mikroskopu Jeol 2000 FX v rámci diplomové práce. Příprava
folií, manipulace s mikroskopem, pozorování struktur, použití obrazové
analýzy při zpracování snímků. Výuka bude přizpůsobena konkrétnímu využití
mikroskopie v dané diplomové práci (předpokladem je absolvování FPL115).
Course completion requirements -
Last update: doc. RNDr. Miroslav Cieslar, CSc. (14.05.2019)
Practical exam on a selected topic in the microscopy laboratory.
Last update: doc. RNDr. Josef Pešička, CSc. (10.06.2019)
K zakončení předmětu je nutno předvést zvládnutí zadané praktické úlohy u mikroskopu.
Literature - Czech
Last update: T_KFK (17.03.2004)
1. B. Smola: Transmisní elektronová mikroskopie. Skripta MFF UK, Státní pedagogické nakladatelství, Praha 1983.
2. L. Reimer: Transmission Electrom Microscopy. Springer Verlag, Berlín 1993.
3. J.W. Edington: Practical Electron Microscopy in Materials Science. ed. N.v. Philips Gloeilampenfabrieken, Eindhoven 1976.
4. I.M. Watt: The Principle and Practice of Electron Microscopy. Cambridge University Press, London 1985.
5. F. Jandoš, R. Říman, A. Gemperle: Využití moderních laboratorních metod v metalografii. Nakladatelství technické literatury, Praha 1985.
6. Williams D.B., Carter C.B. Transmission Electron Microscopy, Plenum Press, New York, 1996.
Requirements to the exam -
Last update: doc. RNDr. Miroslav Cieslar, CSc. (14.05.2019)
Active presence at seminars.
Last update: doc. RNDr. Miroslav Cieslar, CSc. (14.05.2019)
K získání zápočtu je nutná aktivní účast na semináři.
Syllabus -
Last update: T_KFK (13.03.2003)
1. The electrolytic preparation of foils for transmission electron microscope observation by means of device Tenupol.
2. Description and operation of the JEOL 2000 FX electron microscope, basic centering procedure.
3. The observation of the defects in the crystal structure (dislocations, stacking faults, grain boudaries, ?), the observation of the particles and their analysis, phase analysis, using the X-rays to determination of composition, diffraction patterns, Kikuchi lines.
4. Application of image analysis at exploation of electron micrographs.
Last update: T_KFK (13.03.2003)
1. Elektrolytická příprava folií pro pozorování v transmisním elektronovém mikroskopu pomocí prístrojů Tenupol.
2. Popis a ovládání mikroskopu JEOL 2000 FX, základní centrování.
3. Pozorování poruch v krystalu (dislokační struktura, vrstevná chyba, hranice zrn, ?), pozorování částic a jejich analýza, fázová analýza, užití RTG záření k určení složení, difraktogram, Kikuchiho linie.
4. Obrazová analýza snímků s využitím pocítačového zpracování.
