|
|
|
||
Předmět bude zaměřen na praktickou demonstraci základních spektroskopických metod využívaných ve výzkumu
pevných látek. Studenti se seznámí s metodami spektroskopické elipsometrie, spektrofotometrie, magnetooptické
spektroskopie, infračervené fourierovské spektroskopie a THz spektroskopie. Předmět bude navazovat na
přednášku Fyzika polovodičů pro optoelektroniku II a důraz bude kladen i na praktickou ukázku analýzy
experimentálních dat.
Předmět byl vytvořen za podpory projektů Univerzity Karlovy z OP VVV.
Last update: Valentová Helena, doc. RNDr., Ph.D. (03.10.2018)
|
|
||
Předmět seznámí studenty s moderními spektroskopickými metodami používanými v současném materiálovém výzkumu. Důraz bude kladen na provázání teorie pevných látek a experimentu. Last update: Valentová Helena, doc. RNDr., Ph.D. (03.10.2018)
|
|
||
[1] H. Fujiwara, Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications, Wiley (2007) [2] R.M.A. Azzam, N.M. Bashara, Ellipsometry and polarized light, Nord-Holland (1999) [3] H. G. Tompkins, A User's Guide to Ellipsometry, Academic press (1992) Last update: Valentová Helena, doc. RNDr., Ph.D. (03.10.2018)
|
|
||
Last update: Valentová Helena, doc. RNDr., Ph.D. (03.10.2018)
|