Studium fyzikálních vlastností tenkých vrstev manganitů pomocí optické spektroskopie
| Thesis title in Czech: | Studium fyzikálních vlastností tenkých vrstev manganitů pomocí optické spektroskopie |
|---|---|
| Thesis title in English: | Investigation of physical properties of manganite thin films by optical spectroscopy |
| Academic year of topic announcement: | 2010/2011 |
| Thesis type: | project |
| Thesis language: | |
| Department: | Institute of Physics of Charles University (32-FUUK) |
| Supervisor: | RNDr. Martin Veis, Ph.D. |
| Author: | hidden - assigned and confirmed by the Study Dept. |
| Date of registration: | 08.12.2010 |
| Date of assignment: | 08.12.2010 |
| Date of proceeded defence: | 10.07.2011 |
| Advisors: | RNDr. Roman Antoš, Ph.D. |
| Guidelines |
| Feromagnetické vlastnosti manganitů se smíšenou valencí jsou ovlivněny mechanismem dvojité výměny. Ta má původ v přeskoku elektronu z manganu Mn3+ na mangan Mn4+. Pravděpodobnost tohoto elektronového přeskoku závisí na geometrii vazby Mn3+-O-Mn4+. Proto jedním z hlavních faktorů, který ovlivňuje výsledné magnetické vlastnosti těchto materiálu je pnutí indukované rozdílem mřížkových konstant substrátu a zvoleného manganitu. Toto pnutí se nejvíce projevuje v ultratenkých vrstvách (s tloušťkou obvykle pod 20 nm). Mechanismus vlivu pnutí na interakci dvojité výměny do dnešní doby není zcela objasněn. Vzhledem k vysoké citlivosti magnetooptické spektroskopie je tato metoda slibná k charakterizaci ultratenkých vrstev magnetických materiálů.
Cílem tohoto projektu je seznámit studenta s problematikou závislosti fyzikálních vlastností látky na změnách její mřížkové konstanty. Tato závislost bude experimentálně studována pomocí kombinace spektroskopické elipsometrie a magnetooptické spektroskopie. Jako vzorky poslouží ultratenké vrstvy manganitů, ve kterých pnutí indukované mřížkovým rozdílem substrátu a vrstvy významně ovlivňuje výsledné fyzikální vlastnosti. Během tohoto projektu student získá hlubší znalosti o polarizovaném světle, magnetooptických jevech, magnetismu a optice tenkých vrstev. Po nastudování potřebné teorie student navrhne experimentální uspořádání pro měření magnetooptické spektroskopie pro různé orientace magnetizace. S využitím výsledků z elispometrických měření poté analyzuje naměřená data. |
| References |
| R. M. A. Azzam, N. M. Bashara, Ellipsometry and Polarized Light, North-Holland, Amsterdam / New York / Oxford 1977.
Š. Višňovský, Optics in Magnetic Multilayers and Nanostructures, CRC Taylor & Francis, Boca Raton 2006. Vybraný soubor původních prací týkajících se tématu. |