Studium rtg difrakčních profilů aproximací celého záznamu
| Thesis title in Czech: | Studium rtg difrakčních profilů aproximací celého záznamu |
|---|---|
| Thesis title in English: | XRD line profile analysis by total powder pattern fitting |
| Key words: | rentgenová difrakce, výpočetní program na zpracování celého difrakčního záznamu |
| English key words: | X-ray diffraction, software for the total X-ray powder diffraction pattern |
| Academic year of topic announcement: | 2017/2018 |
| Thesis type: | Bachelor's thesis |
| Thesis language: | čeština |
| Department: | Department of Condensed Matter Physics (32-KFKL) |
| Supervisor: | prof. RNDr. Radomír Kužel, CSc. |
| Author: | |
| Advisors: | Mgr. Zdeněk Matěj, Ph.D. |
| Guidelines |
| Rtg difrakční záznam polykrystalického materiálu obsahuje celou řadu zajímavých informací o zkoumaném materiálu. Lze studovat fázové složení, strukturu fází, přednostní orientaci, mřížové parametry, mikrodeformace, velikosti krystalitů. V klasickém způsobu zpracování dat se nejprve vyhodnotí parametry jednotlivých difrakčních profilů (poloha, intenzita, šířka apod.) a pak se tyto zpracovávají. Modernějším přístupem je snaha popsat celý záznam vhodnou funkcí obsahující fyzikální parametry (např. velikost krystalitů, hustotu defektů mříže). Problém takového popisu zatím spočívá v korelaci některých parametrů a hledání správného řešení. Cílem práce je zpracovat vzorová zadaná data, analyzovat chování dosažených parametrů a charakterizovat kritická místa procedury.
Práce spočívá převážně v porovnání výpočetních programů a analýze zpřesněných parametrů. |
| References |
| Vhodné výběrové přednášky
Úvod do krystalografie a strukturní analýzy 2/1 (ZS) FPL035 Difrakční metody 2/0 (LS) |