Studium struktury modelových systémů kov-CeO2/Cu(111) metodou RHEED
| Thesis title in Czech: | Studium struktury modelových systémů kov-CeO2/Cu(111) metodou RHEED |
|---|---|
| Thesis title in English: | Structural study of metal-CeO2/Cu(111) model systems by RHEED |
| Academic year of topic announcement: | 2008/2009 |
| Thesis type: | diploma thesis |
| Thesis language: | čeština |
| Department: | Department of Surface and Plasma Science (32-KFPP) |
| Supervisor: | prof. RNDr. Karel Mašek, Ph.D. |
| Author: | hidden - assigned and confirmed by the Study Dept. |
| Date of registration: | 04.11.2008 |
| Date of assignment: | 04.11.2008 |
| Date and time of defence: | 17.05.2010 00:00 |
| Date of electronic submission: | 17.05.2010 |
| Date of proceeded defence: | 17.05.2010 |
| Opponents: | Ing. Petr Jiříček, CSc. |
| Advisors: | prof. RNDr. Vladimír Matolín, DrSc. |
| Guidelines |
| 1) seznámení se s laboratorním systémem RHEED a XPS-AES
2) vytvoření programového vybavení pro snímání difrakčních obrazců pomocí grafického programovacího systému Labview (volitelné) 3) příprava tenkých epitaxních vrstev CeO2 / Cu(111) 4) příprava a studium systémů kov-oxid 5) vyhodnocení a interpretace naměřených dat |
| References |
| 1) L. Eckertová, L. Frank, Metody analýzy povrchů ? Elektronová mikroskopie a difrakce, Academia, Praha, 1996
2) L. Eckertová a kol., Metody analýzy povrchů, Elektronová spektroskopie, Academia, Praha 1990 3) A. Trovarelli, Catalysis by Ceria and Related Materials, Imperial College Press, ISBN 1-86094-299-7 4) J. Beran, Bakalářská práce, MFF UK, Praha 2008 5) Články v odborných časopisech podle dohody s vedoucím práce |
| Preliminary scope of work |
| http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/dipl-abs.php?id=620
Fyzikálně-chemické vlastnosti povrchů pevných látek nabývají v posledním desetiletí na stále větším významu v mnoha technologických a výzkumných oborech. Zkoumání povrchů pevných látek se provádí tzv. metodami analýzy povrchů. K nim patří i metoda RHEED (Reflection High-Energy Electron Diffraction ? difrakce elektronů s vysokou energií na odraz) založená na difrakci elektronů. RHEED patří k nejpoužívanějším metodám kontroly růstu tenkých vrstev v laboratoři i průmyslu. Difrakční obrazec je ze stínítka snímán do počítače pomocí vysoce citlivé CCD kamery. Metoda poskytuje informace o struktuře a morfologii povrchu zkoumaného vzorku v atomárním měřítku. Diplomová práce se zabývá měřením, zpracováním a interpretací difrakčních obrazců pozorovaných v průběhu depozice kovů (Pd, Pt, ..) na povrch tenké epitaxní vrstvy oxidu céru. Vyhodnocení difrakčních obrazců vede k popisu krystalické struktury těchto vrstev a jejich epitaxních parametrů. Obrazové informace se zpracovávají v programovém systému Labview a Imaq Vision firmy National Instruments. Chemické složení a chemický stav zkoumaných povrchů bude analyzován metodami fotoelektronové a Augerovy elektronové spektroskopie (XPS a AES). Smyslem práce je výzkum struktury a interakce systémů kov ? oxid používaných jako modelových systémů pro studium katalytických a senzorických vlastností. Jedná se o velmi moderní a dosud málo prozkoumaný systém mající řadu praktických aplikací zejména v oblasti plynových senzorů a katalyzátorů. |