Charakterizace tenkých vrstev CdTe pro fotoniku optickými metodami

• Thesis title in Czech: Charakterizace tenkých vrstev CdTe pro fotoniku optickými metodami
• Thesis title in English: Characterization of thin layers for photonics by optical methods
• Academic year of topic announcement: 2007/2008
• Thesis type: project
• Thesis language: čeština
• Department: Institute of Physics of Charles University (32-FUUK)
• Supervisor: prof. Ing. Jan Franc, DrSc.
• Author: hidden - assigned and confirmed by the Study Dept.
• Date of registration: 14.11.2007
• Date of assignment: 14.11.2007
• Date of proceeded defence: 10.06.2008

Guidelines

Seznámit se se základy metodiky charakterizace povrchu vrstev optickou interferometrií a fotoluminiscencí. Proměřit
hrubost povrchu vrstev na optickém interferometru Zygo
Na vybraných vzorcích provést měření optických vlastností. Měření zpracovat a posudit kvalitu jednotlivých vrstev.

References

Luminiscenční spektroskopie polovodičů
I.Pelant, J.Valenta, Academia 2006

Preliminary scope of work

Fotonika je jedním z rychle se rozvíjejících odvětví optiky a optoelektroniky zahrnujících emisi, transmisi, detekci, amplifikaci, modulaci
a přepínání světla. Jedním ze studovaných materiálů pro přípravu vlnovodů a dalších pasivních optických prvků je polovodič CdTe. Cílem práce je charakterizace tenkých vrstev CdTe (100nm-1000nm) připravených na různých typech substrátů (Si, safír, sklo) několika optickými metodami a stanovit, která podložka je pro přípravu kvalitních vrstev nejvhodnější. Základní metodou ke studiu bude nízkoteplotní fotoluminiscence. Tato bezkontaktní metoda umožňuje stanovit kvalitu materiálu analýzou její spektrální závislosti,
z níž lze určit přítomnost jednotlivých typů poruch. K měření bude použita stávající aparatura sestávající z laditelného Ti-safírového laseru a kryostatu pro měření při teplotě kapalného Helis (4.2K).