Ellipsometrická měření indukovaných změn fyzikálních vlastností v materiálech
| Thesis title in Czech: | Ellipsometrická měření indukovaných změn fyzikálních vlastností v materiálech |
|---|---|
| Thesis title in English: | Ellipsometric studies of induced changes in material properties |
| Academic year of topic announcement: | 2014/2015 |
| Thesis type: | project |
| Thesis language: | |
| Department: | Institute of Physics of Charles University (32-FUUK) |
| Supervisor: | RNDr. Martin Veis, Ph.D. |
| Author: | |
| Advisors: | RNDr. Roman Antoš, Ph.D. |
| Guidelines |
| Cílem tohoto projektu je seznámení se s metodou spektroskopické elipsometrie a jednoduchý úvod do problematiky optických vlastností materiálů. Dále úvod do indukované změny fyzikálních vlastností materiálů a nanostruktur pomocí aplikovaného napětí či změny teploty.
Student získá původní experimentální data na vybraných vzorcích a s pomocí komerčního programu dodaného k elipsometru se pokusí o jejich analýzu. |
| References |
| R. M. A. Azzam, N. M. Bashara, Ellipsometry and Polarized Light, North-Holland, Amsterdam / New York / Oxford 1977.
Š. Višňovský, Optics in Magnetic Multilayers and Nanostructures, CRC Taylor & Francis, Boca Raton 2006. Vybraný soubor původních prací týkajících se tématu. K dispozici u vedoucího projektu. |
| Preliminary scope of work |
| Spektroskopická elipsometrie je neinvazivní metodou, hojně používanou pro studium optických vlastností materiálů. Tato metoda využívá změny polarizačního stavu při odrazu na rozhraní dvou různých prostředí. To umožňuje získání spektrální závislosti dvou elipsometrických proměnných psí a delta. Následná analýza experimentálních dat vyžaduje pokročilé fyzikální modely implementované v počítačových programech. Tímto způsobem lze získat informaci o spektrální závislosti indexu lomu daného materiálu, jeho tloušťce, drsnosti povrchu, atd. V současné době se spektroskopická elipsometrie uplatňuje zejména při výzkumu nových materiálů, které do dnešní doby nebyly kompletně charakterizovány. Mezi tyto materiály patří i Heuslerovy slitiny či nové magnetické oxidy. Pomocí spektroskopické elipsometrie se dají následně studovat jevy indukované změny fyzikálních vlastností materiálů a nanostruktur.
|