Optická charakterizace tenkých oxidových vrstev
| Thesis title in Czech: | Optická charakterizace tenkých oxidových vrstev |
|---|---|
| Thesis title in English: | Optical characterization of thin oxide layers |
| Key words: | oxidové vrstvy, elipsometrie, voltampérové charakteristiky |
| English key words: | oxide layers, elipsometry, voltampere characteristics |
| Academic year of topic announcement: | 2014/2015 |
| Thesis type: | Bachelor's thesis |
| Thesis language: | čeština |
| Department: | Institute of Physics of Charles University (32-FUUK) |
| Supervisor: | prof. Ing. Jan Franc, DrSc. |
| Author: | hidden - assigned and confirmed by the Study Dept. |
| Date of registration: | 01.10.2014 |
| Date of assignment: | 01.10.2014 |
| Confirmed by Study dept. on: | 30.04.2015 |
| Date and time of defence: | 23.06.2015 00:00 |
| Date of electronic submission: | 18.05.2015 |
| Date of submission of printed version: | 25.05.2015 |
| Date of proceeded defence: | 23.06.2015 |
| Opponents: | doc. RNDr. Pavel Moravec, CSc. |
| Guidelines |
| 1. Prostudovat literaturu ke stanovení optických parametrů vrstevnatých systémů
2. Seznámit se s aparaturou pro měření optické odezvy materiálů elipsometrickou metodou 3. Proměřit soubor vzorků CdTe s oxidovými vrstvami 4. Analyzovat výsledky měření a porovnat závislosti optických parametrů vzorků v závislosti na vlnové délce dopadajícího záření 5. Charakterizovat vliv oxidace na svodový proud měřením voltampérových charakteristik |
| References |
| 1.P.Malý, Optika, Karolinum 2008 |