Mapování mikroluminiscence a fotovodivosti semiizolačního CdTe
| Thesis title in Czech: | Mapování mikroluminiscence a fotovodivosti semiizolačního CdTe |
|---|---|
| Thesis title in English: | Mapping of microluminescence and photoconductivity of semiinsulating CdTe |
| Key words: | microluminiscence, fotovodivost, CdTe |
| English key words: | microluminescence, photoconductivity, CdTe |
| Academic year of topic announcement: | 2018/2019 |
| Thesis type: | Bachelor's thesis |
| Thesis language: | čeština |
| Department: | Institute of Physics of Charles University (32-FUUK) |
| Supervisor: | prof. Ing. Jan Franc, DrSc. |
| Author: |
| Guidelines |
| 1. Vypracovat rešerši o mapování krystalů CdTe pomocí mikroluminiscence a fotovodivosti
2. Provést měření semiizolačních vzorků CdTe 3. Zpracovat měření a diskutovat získané výsledky |
| References |
| 1. C.Szeles, Physica Status Solidi B 241 (2004) 783
2.T.E.Schlesinger et al., Materials Science Eng.R 32 (2001) 3.G.F.Knoll, Radiation detection and Measurement, John Wiley and Sons, (2000) |
| Preliminary scope of work |
| Polovodičový materiál CdTe patří vzhledem ke svým unikátním vlastnostem k nejperspektivnějším
materiálům pro celou řadu aplikací (vysoce citlivé, nechlazené detektory Rentgenova a gama záření s využitím v medicíně, jaderné bezpečnosti, bezpečnosti na letištích..), substráty pro matice infračervených detektorů. Je jedním ze studovaných materiálů pro spintroniku. Optické, elektrické a strukturní vlastnosti materiálu lze ovlivnit přítomností přirozených bodových defektů a příměsí. Při růstu krystalů dochází k segregaci jednotlivých typů příměsí a poruch, což má za následek, že se vlastnosti materiálu v různých částech krystalu liší. Bakalářské práce je zaměřena na diagnostiku rozložení přirozených defektů a příměsí pomocí nízkoteplotní fotoluminiscence. K měření bude použito stávající automatického zařízení sestávající z laditelného Ti-safírového, příp.He-Ne laseru a kryostatu určeného k mapování vzorků. Zpracovaná spektra fotoluminisence pak umožňují určit rozložení maxim v ploše mapovaného vzorku a tím i plošný průběh jednotlivých typů defektů a příměsí. |