Studium modelových systémů kov/oxid metodou RHEED a metodami elektronových spektroskopií
| Název práce v češtině: | Studium modelových systémů kov/oxid metodou RHEED a metodami elektronových spektroskopií |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce: | Study of metal-oxide model systems by methods of electron spectroscopy and diffraction |
| Akademický rok vypsání: | 2009/2010 |
| Typ práce: | diplomová práce |
| Jazyk práce: | |
| Ústav: | Katedra fyziky povrchů a plazmatu (32-KFPP) |
| Vedoucí / školitel: | prof. RNDr. Karel Mašek, Ph.D. |
| Řešitel: | |
| Konzultanti: | prof. RNDr. Vladimír Matolín, DrSc. |
| Zásady pro vypracování |
| 1) seznámení se s laboratorním systémem RHEED a XPS-AES
2) příprava tenkých epitaxních vrstev WOx/ W(110) 3) příprava a studium systémů kov-oxid 4) vyhodnocení a interpretace naměřených dat |
| Seznam odborné literatury |
| 1) L. Eckertová, L. Frank, Metody analýzy povrchů ? Elektronová mikroskopie a difrakce, Academia, Praha, 1996
2) L. Eckertová a kol., Metody analýzy povrchů, Elektronová spektroskopie, Academia, Praha 1990 3) Slavomír Nemšák, Doktorandská disertační práce, MFF UK Praha, 2008 4) Články v odborných časopisech podle dohody s vedoucím práce |
| Předběžná náplň práce |
| Systém kov/oxid tvoří základní stavební součást řady průmyslových aplikací v oblasti elektrotechnického průmyslu, heterogenní katalýzy, detekce plynů apod. Z tohoto důvodu je neustále předmětem širokého výzkumu. V rámci této diplomové práce budou fyzikálně-chemické vlastnosti systému kov-oxid Pd(Pt, Au)/WOx/W(110) studovány metodou reflexní difrakce rychlých elektronů (RHEED) a různými elektronovými spektroskopiemi. Experimentální zařízení je vybaveno vypařovacími elementy pro přípravu tenkých epitaxních vrstev kovů i oxidů. Epitaxní vrstva oxidu wolframu bude připravena pomocí plazmové oxidace povrchu monokrystalu W(110). Komerčním analyzátor RHEA-100 od firmy Staib Instruments umožňuje měření charakteristických ztrát elektronů (EELS) přímo z difraktovaných elektronových svazků (RHEED). Vícekanálový hemisférický analyzátor VSW HA-100 nabízí možnost zkoumání těchto systémů dalšími metodami elektronových spektroskopií (AES ? spektroskopie Augerových elektronů, XPS - fotoelektronová spektroskopie). Současně bude studován i vliv redukce oxidu a případná bimetalická interakce na vlastnosti celého systému.
Navrhovaná diplomová práce úzce souvisí s projekty řešenými ve skupině povrchů KFPP a lze na ni navázat v následném doktorandském studiu. V průběhu studia se předpokládá i účast na měření na Synchrotronu Elettra v Terstu. http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/dipl-abs.php?id=621 |
| Předběžná náplň práce v anglickém jazyce |
| http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/dipl-abs.php?id=621
|