Studium rtg difrakčních profilů aproximací celého záznamu
| Název práce v češtině: | Studium rtg difrakčních profilů aproximací celého záznamu |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce: | XRD line profile analysis by total powder pattern fitting |
| Akademický rok vypsání: | 2008/2009 |
| Typ práce: | bakalářská práce |
| Jazyk práce: | |
| Ústav: | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) |
| Vedoucí / školitel: | prof. RNDr. Radomír Kužel, CSc. |
| Řešitel: |
| Zásady pro vypracování |
|
Práce převážně spočívá ve výpočetní práci s několika programy a analýze dosažených parametrů. |
| Seznam odborné literatury |
| Vhodné výběrové přednášky
Úvod do krystalografie a strukturní analýzy 2/1 (ZS) FPL 035 a Difrakční metody 2/0 (LS). |
| Předběžná náplň práce |
| Rtg difrakční záznam polykrystalického materiálu obsahuje celou řadu zajímavých informací o zkoumaném materiálu. Lze studovat fázové složení, strukturu fází, přednostní orientaci, mřížové parametry, mikrodeformace, velikosti krystalitů. V klasickém způsobu zpracování dat se nejprve vyhodnotí parametry jednotlivých difrakčních profilů (poloha, intenzita, šířka apod.) a pak se tyto zpracovávají. Modernějším přístupem je snaha popsat celý záznam vhodnou funkcí obsahující fyzikální parametry (např. velikost krystalitů, hustotu defektů mříže). Problém takového popisu zatím spočívá v korelaci některých parametrů a hledání správného řešení. Cílem práce je zpracovat vzorová zadaná data, analyzovat chování dosažených parametrů a charakterizovat kritická místa procedury.
Práce převážně spočívá ve výpočetní práci s několika programy. |