Rtg difrakční studium vrstev Ti-O-N
| Název práce v češtině: | Rtg difrakční studium vrstev Ti-O-N |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce: | X-ray diffraction study of Ti-O-N thin films |
| Akademický rok vypsání: | 2007/2008 |
| Typ práce: | bakalářská práce |
| Jazyk práce: | čeština |
| Ústav: | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) |
| Vedoucí / školitel: | prof. RNDr. Radomír Kužel, CSc. |
| Řešitel: |
| Zásady pro vypracování |
| Práce převážně spočívá v experimentu na moderním rentgenovém difraktometru a vyhodnocení dat.
Cílem práce je komplexně charakterizovat vybranou sérii několika vrstev Ti-O-N pomocí rtg difrakce a reflektivity, t.j. fázové složení, přednostní orientaci, zbytková napětí, mikroskopická napětí, velikosti krystalitů, drsnost povrchu a hustotu. Ke studiu budou využívány různé difrakční geometrie umožňující spolehlivé stanovení těchto parametrů. |
| Seznam odborné literatury |
| Vhodné výběrové přednášky
Úvod do krystalografie a strukturní analýzy FPL035 2/1 (ZS) a Difrakční metody 2/0 (LS). L. Nichtová, Rtg strukturní studium nanokrystalických tenkých vrstev. Praha 2005. Diplomová práce. V. Valvoda, M. Polcarová, P. Lukáč: Základy strukturní analýzy. Univerzita Karlova. Praha. 1992. (vybrané partie) I. Kraus: Úvod do strukturní rentgenografie. Academia. Praha 1985. (vybrané partie) I. Kraus., V.V. Trofimov: Rentgenová tenzometrie. Academia. Praha 1988. (vybrané partie) Experimentální techniky v rentgenové a neutronové strukturní analýze. Krystalografická společnost. Praha 1994. ed. R. Kuzel. (vybrané partie) |
| Předběžná náplň práce |
| Význam nanokrystalických materiálů v celé řadě technologických a průmyslových aplikací v dnešní době výrazně vzrůstá. Jednou ze zajímavých aplikací je povlakování materiálů vrstvami TiO2 s vysokou smáčivostí (netvoří se kapky), které navíc vykazují fotokatalytické vlastnosti, které vedou k oxidační dekompozici organických molekul na povrchu působením ultrafialového záření (samočistící a antibakteriální vlastnosti).
Cílem práce je charakterizovat vybranou sérii několika vrstev pomocí rtg difrakce a reflektivity, t.j. fázové složení, přednostní orientaci, zbytková napětí, mikroskopická napětí, velikosti krystalitů, drsnost povrchu a hustotu. Ke studiu budou využívány různé difrakční geometrie umožňující spolehlivé stanovení těchto parametrů. Práce převážně spočívá v experimentu na moderním rentgenovém difraktometru a vyhodnocení dat. |