Structure of submicrocrystalline materials studied by X-ray diffraction
| Název práce v češtině: | Studium struktury submikrokrystalických materiálů pomocí rentgenové difrakce |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce: | Structure of submicrocrystalline materials studied by X-ray diffraction |
| Klíčová slova: | rentgenová difrakce, modelování difrakčních profilů, mřížové poruchy, rozdělení velikostí krystalitů |
| Klíčová slova anglicky: | X-ray diffraction, diffraction profile modelling, lattice defects, crystallite size distribution |
| Akademický rok vypsání: | 2003/2004 |
| Typ práce: | disertační práce |
| Jazyk práce: | angličtina |
| Ústav: | Katedra fyziky kondenzovaných látek (32-KFKL) |
| Vedoucí / školitel: | prof. RNDr. Radomír Kužel, CSc. |
| Řešitel: | skrytý - zadáno a potvrzeno stud. odd. |
| Datum přihlášení: | 26.11.2003 |
| Datum zadání: | 26.11.2003 |
| Datum a čas obhajoby: | 15.09.2011 09:00 |
| Datum odevzdání elektronické podoby: | 01.08.2011 |
| Datum odevzdání tištěné podoby: | 30.06.2011 |
| Datum proběhlé obhajoby: | 15.09.2011 |
| Oponenti: | RNDr. Petr Lukáš, CSc. |
| Ing. Marian Čerňanský, CSc. | |