Mikroskopie v režimech STM a AFM pomocí kombinované sondy typu „q-plus“
| Název práce v češtině: | Mikroskopie v režimech STM a AFM pomocí kombinované sondy typu „q-plus“ |
|---|---|
| Název v anglickém jazyce: | STM and AFM measurements by means of a combined "q-plus" probe |
| Akademický rok vypsání: | 2017/2018 |
| Typ práce: | bakalářská práce |
| Jazyk práce: | |
| Ústav: | Katedra fyziky povrchů a plazmatu (32-KFPP) |
| Vedoucí / školitel: | prof. RNDr. Ivan Ošťádal, CSc. |
| Řešitel: |
| Zásady pro vypracování |
| 1. Seznámení s fyzikálními principy metod STM a AFM.
2. Zvládnutí přípravy hrotů a sondy typu q-plus. 3. Zjištění parametrů kmitající sondy (rezonanční frekvence, jakost rezonátoru). 4. Měření STM/AFM na površích vhodných pro kalibraci. |
| Seznam odborné literatury |
| 1. S. Morita, R. Wiesendanger, E. Meyerl (eds), Noncontact atomic force microscopy, Springer-Verlag Berlin Heidelberg New York, 2002.
2. E. Meyer, H.J. Hug, R. Bennewitz, Scanning Probe Microscopy, Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2004. 3. odborné články doporučené vedoucím práce. |
| Předběžná náplň práce |
| Skenovací tunelová mikroskopie (STM) umožňuje studovat morfologii a elektronovou strukturu vodivých povrchů pevných látek s atomárním rozlišením pomocí silně lokalizovaného proudu tunelujících elektronů. Mikroskopie atomárních sil (AFM) umožňuje studium i nevodivých povrchů díky měření silové interakce mezi rastrující sondou (hrotem) a povrchem. Měření síly dynamickým způsobem ze změn frekvence kmitajícího senzoru umožnilo zcela vyloučit optickou část mikroskopu a otevřelo cestu k integraci metod STM a AFM do jediného zařízení využívající kombinovanou sondu. Sonda je tvořena vodivým hrotem upevněným na rameno kmitajícího křemenného rezonátoru, který je umístěn na piezoelektrickém skeneru. Toto uspořádání umožňuje nejenom nezávislá měření oběma metodami, ale navíc kombinované měření, při kterém lze zpětnovazební smyčku pro STM řídit vybraným chybovým signálem z vybraného datového kanálu současného měření v režimu AFM.
Cílem práce je ověření možností měření pomocí senzoru vyvinutého v laboratoři STM a testování řídicí části dynamického systému AFM. http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/bak-abs.php?id=223 |
| Předběžná náplň práce v anglickém jazyce |
| http://physics.mff.cuni.cz/kfpp/php/bak-abs.php?id=223 |