Technika rastrovací tunelové mikroskopie (STM) poskytuje možnost přímého studia kinetiky a dynamiky povrchových procesů pomocí opakovaného zobrazování vybrané oblasti povrchu. Rozlišení událostí v čase je dáno četností jejich výskytu během záznamu jednoho snímku. Pro použitelnost této metody je rozhodující maximální rychlost snímání povrchu, která je daná technickými parametry STM a morfologií povrchu. U řady procesů lze jejich rychlost řídit změnami teploty. Ve speciálních případech je možné použít další metody, jako „adatom tracing“ (kdy hrot STM „kopíruje“ v prostoru pohyb vybraného atomu), „line-scanning“ (opakované zobrazování řádku v čase) a „time spectroscopy“ (záznam velmi rychlých událostí v dané pozici hrotu pomocí záznamu změn tunelového proudu). Vhodným výběrem podmínek měření a volbou optimální techniky lze pro dané zařízení STM pokrýt poměrně velký rozsah rychlostí.
Tématem disertační práce je využití uvedených technik především pro získání dat potřebných pro určení chybějících parametrů povrchové difúze vybraných kovů na křemíku a objasnění kinetiky růstu řetízků hliníku s nestandardní morfologií. Současně bude dále rozvíjena experimentální technika přímého pozorování růstu povrchových struktur během depozice.
Seznam odborné literatury
Časopisecká literatura bude doplněna po konzultaci se školitelem.
- zadáno a potvrzeno stud. odd.